[發明專利]讀取非易失性存儲器電流的方法及獲取電流分布狀態的方法有效
| 申請號： | 201410106658.0 | 申請日： | 2014-03-20 |
| 公開（公告）號： | CN103886906B | 公開（公告）日： | 2017-01-25 |
| 發明（設計）人： | 代瑞娟;席與凌;李強 | 申請（專利權）人： | 上海華力微電子有限公司 |
| 主分類號： | G11C16/26 | 分類號： | G11C16/26;G11C16/34 |
| 代理公司： | 上海申新律師事務所31272 | 代理人： | 吳俊 |
| 地址： | 201210 上海市浦*** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 讀取 非易失性存儲器 電流 方法 獲取 分布 狀態 | ||
1.讀取非易失性存儲器電流的方法，其特征在于，被測的非易失性存儲器中的每個存儲單元均處于測試狀態，該方法為同時測量所有存儲單元的電流，所述存儲單元為被測器件；
其中，每個被測器件的電流測試步驟為：
步驟1.獲取所述被測器件中的電流；
步驟2.判斷所述被測器件是否處于編程狀態，若是，執行步驟3；若否則所述被測器件失效單元為零個，執行步驟4；
步驟3.根據所述電流獲取所述被測器件失效單元個數，執行步驟4；
步驟4.結束。
2.如權利要求1所述讀取非易失性存儲器電流的方法，其特征在于：步驟1中通過所述恒流源從所述被測器件中拉出電流IOH。
3.如權利要求2所述讀取非易失性存儲器電流的方法，其特征在于：步驟3中根據所述電流獲取所述被測器件失效單元個數的具體過程為：
步驟31.判斷所述電流IOH是否大于或等于所述被測器件飽和電流Icell，若是則所述被測器件失效單元為零個，執行步驟32；若否則所述被測器件失效單元存在失效單元，執行步驟34；
步驟32.所述電流IOH以1uA的步進減小一次，執行步驟33；
步驟33.判斷減小后的所述電流IOH是否為0A，若是，執行步驟4；若否，執行步驟31；
步驟34.獲取并存儲所述失效單元個數，并存取與所述失效單元個數對應的電流值，執行步驟32。
4.一種獲取非易失性存儲器電流分布狀態的方法，其特征在于，包括如權利要求3所述的讀取非易失性存儲器電流的方法，步驟4中包括根據步驟34中所述電流值與所述失效單元的個數繪制一曲線圖，根據所述曲線圖獲取所述被測器件的電流分布狀態，結束；
根據所有所述被測器件的電流分布狀態，即可獲取所述非易失性存儲器的電流分布狀態。
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