[發明專利]一種適用于深層鹵水阻垢劑性能評價方法

有效

• 申請號: 201410102267.1
• 申請日: 2014-03-18
• 公開（公告）號: CN103837657A
• 公開（公告）日: 2014-06-04
• 發明（設計）人: 崔兆杰;張鑫;邵倩倩;劉麗萍;梁昱;方靖;周卜
• 申請（專利權）人: 山東大學
• 主分類號: G01N33/00
• 分類號: G01N33/00;G01N1/28;G01N1/38;G01N1/40;G01N1/44
• 代理公司: 濟南金迪知識產權代理有限公司 37219
• 代理人: 王緒銀

1.一種適用于深層鹵水阻垢劑性能評價方法，包括如下步驟：

（1）室溫下，測深層鹵水中離子濃度及全鹽量，得初始離子濃度，采取深層鹵水中的垢樣，對垢樣成分進行X射線衍射分析，根據分析結果，確定深層鹵水中在提取過程中易析晶、結垢的離子；初始離子濃度中易析晶、結垢離子的濃度為初始易析晶、結垢離子濃度；

（2）向待測深層鹵水中加入阻垢劑，阻垢劑的投加量為每升待測鹵水加入20～30mg的阻垢劑，然后于70～80℃的恒溫水浴中加熱濃縮，每隔15min取樣一次，直至濃縮至含阻垢劑的深層鹵水水樣原體積的3/5～4/5，制得深層鹵水水樣濃縮液，記做平行樣；取待測深層鹵水，不加阻垢劑，同等條件下做空白樣；

（3）將步驟（2）的深層鹵水水樣濃縮液加水稀釋500～600倍，加入濃硝酸進行消解，所述濃硝酸的加入量為稀釋后深層鹵水水樣濃縮液體積的1/10～2/10，然后加熱煮沸至水樣樣品透明清澈，冷卻至室溫后加入質量分數為2～5%的硝酸定容，制得待測平行樣，空白樣同等條件下做同樣處理，制得待測空白樣；

（4）用電感耦合等離子體原子發射光譜法（ICP-AES）分別測待測平行樣、待測空白樣中易析晶、結垢離子的濃度，

（5）易析晶、結垢離子阻垢率η(％)的計算：

將步驟（4）測得的待測平行樣、待測空白樣中易析晶、結垢離子的濃度數據代入公式：η=Ce-CoCb-Co]]>

式中，η為阻垢率，%；

C_e為待測平行樣中易析晶、結垢離子濃度，mg/L，

C_o為待測空白樣易析晶、結垢離子濃度，mg/L；

Cb為初始易析晶、結垢離子濃度乘以理想濃縮倍數k

理想濃縮倍數k=待測平行樣中Br-濃度／初始離子Br-濃度。

2.根據權利要求1所述的適用于深層鹵水阻垢劑性能評價方法，其特征在于，還包括以下步驟：

通過步驟（5）的理想濃縮倍數k和易析晶、結垢離子濃縮倍數σ對深層鹵水阻垢劑性能進行評價，以理想濃縮倍數k為橫坐標，易析晶、結垢離子濃縮倍數σ為縱坐標，繪制地下深層鹵水無結垢理想濃縮曲線和易析晶、結垢離子的濃縮曲線圖，無結垢理想濃縮曲線是以理想濃縮倍數k為橫坐標，σ為縱坐標進行繪制，k=σ；平行樣（原水）濃縮曲線是以理想濃縮倍數k為橫坐標，實際濃縮倍數σ為縱坐標進行繪制，易析晶、結垢離子的濃縮曲線圖，上述曲線中的點為每隔15min取樣一次的點值，離無結垢理想濃縮曲線的遠近，代表阻垢效果的強弱，離無結垢理想濃縮曲線近的，阻垢劑的阻垢效果越好，離無結垢理想濃縮曲線遠的，阻垢劑的阻垢效果越弱，

其中，易析晶、結垢離子濃縮倍數σ=待測平行樣中易析晶、結垢離子濃度／初始易析晶、結垢離子濃度。

3.根據權利要求1所述的適用于深層鹵水阻垢劑性能評價方法，其中特征在于，步驟（1）中全鹽量是采用重量法測得的，地下鹵水中初始離子濃度是采用離子選擇電極法、分光光度法、比濁法和電感耦合等離子發射光譜法測得。

4.根據權利要求3所述的適用于深層鹵水阻垢劑性能評價方法，其中特征在于，地下鹵水中陰離子的初始離子濃度是用離子選擇電極法、分光光度法、比濁法測得，陽離子的初始離子濃度是用電感耦合等離子發射光譜法測得。

5.根據權利要求1所述的適用于深層鹵水阻垢劑性能評價方法，其中特征在于，步驟（3）中濃硝酸的質量分數為65～68%。