[發明專利]一種無塵口罩過濾效率的檢測評價方法

無效

• 申請號: 201410099270.2
• 申請日: 2014-03-17
• 公開（公告）號: CN103837460A
• 公開（公告）日: 2014-06-04
• 發明（設計）人: 郭艷青;李永峰
• 申請（專利權）人: 天津三星電機有限公司
• 主分類號: G01N15/08
• 分類號: G01N15/08
• 代理公司: 天津市三利專利商標代理有限公司 12107
• 代理人: 韓新城

技術領域

本發明涉及無塵口罩過濾效率檢測評價技術領域，特別是涉及一種無塵口罩過濾效率的檢測評價方法。

背景技術

目前，隨著制造技術的日臻完善，各國電子工業的產業結構有了巨大的變化和發展。為了滿足市場需求，攝像頭的更新速度不斷加快，像素越來越高，制品向著精密化方向發展。因此，對無塵室（Clean?Room）要求也越來越高，異物控制要求也越來越嚴格，無塵室所使用的各種消耗品，發塵量都要求有嚴格的控制，其中，高過濾效率的無塵口罩，在無塵室中的相對發塵量低，這樣的無塵口罩是現階段本領域技術人員一直想要使用的，但是，目前一直無法對無塵口罩的過濾效率進行檢測。

因此，開發出一種技術，其可以方便、快速、準確地檢測并評價無塵口罩的過濾效率，保證所使用的無塵口罩滿足實際生產需要，進而保證所生產的制品的品質，具有重要的意義。

發明內容

本發明的目的在于解決上述技術問題而提供一種無塵口罩過濾效率的檢測評價方法。

為實現上述目的，本發明采用以下技術方案：

一種無塵口罩過濾效率的檢測評價方法，測試設備采用兩臺激光粒子計數器以及一臺滾筒，所述滾筒具有可旋轉的桶體，所述桶體具有異物排出口，所述異物排出口設有異物收集罩；在潔凈環境中，采用如下步驟進行檢測評價：

對所述滾筒的桶體內部進行清掃處理，使所述桶體內部保持潔凈；

將1#激光粒子計數器的空氣采集口通過潔凈度連接管與所述滾筒的異物收集罩相連接，將2#激光粒子計數器放置于所述異物收集罩的罩口；

將污染源放入所述滾筒的桶體內部；

將待測試無塵口罩樣品展開后綁定在所述滾筒的異物收集罩的罩口；

嫁動所述2#激光粒子計數器多次，測定所述異物收集罩的罩口外環境的潔凈度，記錄平均值，標記為N₀；

嫁動所述滾筒以及所述1#、2#激光粒子計數器多次，記錄平均值，分別標記為N₁、N₂；

采用公式(N₂-N₀)/N₁計算所述無塵口罩過濾效率。

所述桶體內部保持潔凈是指用激光粒子計數器測試所述桶體內部的潔凈度為零。

所述潔凈環境是指Class100以下潔凈的空間中。

所述滾筒、1#、2#激光粒子計數器在測試過程中的嫁動次數相同。

所述滾筒、1#、2#激光粒子計數器在測試過程中的嫁動次數至少為10次。

所述污染源為紙。

本發明通過在潔凈環境中采用上述裝置按上述方法對無塵口罩的過濾效率進行檢測，不但大大提高了檢測效率，而且保證了檢測的效果達到了要求的標準，保證有效地保證了所使用的無塵口罩能滿足實際生產需要，進而保證所生產的制品的品質，具有重在生產實踐意義。

附圖說明

圖1所示為本發明實施例提供的滾筒的結構示意圖；

圖2所示為本發明實施例提供的滾筒的異物收集罩的側視示意圖。

具體實施方式

下面，結合實例對本發明的實質性特點和優勢作進一步的說明，但本發明并不局限于所列的實施例。

一種無塵口罩過濾效率的檢測評價方法，測試設備采用兩臺激光粒子計數器以及一臺滾筒，所述滾筒具有可旋轉的桶體，所述桶體具有異物排出口，所述異物排出口設有異物收集罩；在潔凈環境中，采用如下步驟進行檢測評價：

對所述滾筒的桶體內部進行清掃處理，使所述桶體內部保持潔凈；

將1#激光粒子計數器的空氣采集口通過潔凈度連接管與所述滾筒的異物收集罩相連接，將2#激光粒子計數器放置于所述異物收集罩的罩口；

將污染源放入所述滾筒的桶體內部；

將待測試無塵口罩樣品1個，展開后綁定在所述滾筒的異物收集罩的罩口；

嫁動所述2#激光粒子計數器多次，測定所述異物收集罩的罩口外環境的潔凈度，記錄潔凈度平均值(如記錄0.5μm以上微粒的數量值)，標記為N₀；

嫁動所述滾筒以及所述1#、2#激光粒子計數器多次，記錄潔凈度平均值(如記錄0.5μm以上微粒的數量值)，分別標記為N₁、N₂；

采用公式(N₂-N₀)/N₁計算所述無塵口罩過濾效率。