[發(fā)明專利]用于評估信號的電路裝置和方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410094046.4 | 申請日： | 2014-03-13 |
| 公開（公告）號： | CN104049102B | 公開（公告）日： | 2018-08-03 |
| 發(fā)明（設計）人： | C·塞得爾;M·卡爾特內格 | 申請（專利權）人： | 英飛凌科技股份有限公司 |
| 主分類號： | G01P3/488 | 分類號： | G01P3/488 |
| 代理公司： | 北京市金杜律師事務所 11256 | 代理人： | 王茂華;鄭振 |
| 地址： | 德國諾伊*** | 國省代碼： | 德國;DE |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 電路 測量電路 第二測量 電路裝置 配置 第一測量 電路耦合 電壓限制 評估信號 耦合 | ||
1.一種電路裝置，包括：
接口，其被配置為接收信號；
保護電路，其耦合至該接口，其中所述保護電路被配置為將所述接口所提供的電壓限制為保護電壓；
測量電路，其耦合至所述保護電路并且被配置為在所述接口所提供的所述電壓大于所述保護電壓的情況下提供第一測量類型的信號和第二測量類型的信號中的至少一個，并且在所述接口所提供的所述電壓小于所述保護電壓的情況下提供所述第二測量類型的信號；
其中所述第一測量類型的信號提供由所述保護電路進行的將所述接口所提供的電壓限制為所述保護電壓中所丟失的、與所接收的信號的幅度有關的附加信息，以及所述第二測量類型的信號提供與所述接口所提供的電壓的過零點有關的附加信息。
2.根據(jù)權利要求1所述的電路裝置，
其中所述第一測量類型表示通過所述保護電路的電流。
3.根據(jù)權利要求1所述的電路裝置，
其中所述第二測量類型表示電壓。
4.根據(jù)權利要求1所述的電路裝置，
其中所述保護電路包括至少一個反向偏壓二極管，其中所述反向偏壓二極管耦合至所述接口所提供的電壓。
5.根據(jù)權利要求4所述的電路裝置，
其中所述至少一個反向偏壓二極管包括至少一個齊納二極管，
其中所述齊納二極管耦合至所述接口所提供的電壓。
6.根據(jù)權利要求1所述的電路裝置，
其中所述保護電路包括至少兩個反向偏壓二極管，以及
其中所述至少兩個反向偏壓二極管在所述接口所提供的電壓之間串聯(lián)耦合。
7.根據(jù)權利要求6所述的電路裝置，
其中所述至少兩個反向偏壓二極管為至少兩個齊納二極管，以及
其中所述至少兩個齊納二極管在所述接口所提供的電壓之間串聯(lián)耦合。
8.根據(jù)權利要求1所述的電路裝置，
其中所述保護電路包括至少一個晶體管，其中所述晶體管耦合至所述接口所提供的電壓并且被配置為對所述接口所提供的電壓進行分流。
9.根據(jù)權利要求1所述的電路裝置，
其中所述保護電路包括至少兩個晶體管，其中所述晶體管在所述接口所提供的電壓之間串聯(lián)耦合并且被配置為對所述接口所提供的電壓進行分流。
10.根據(jù)權利要求4所述的電路裝置，
其中所述測量電路包括與所述至少一個反向偏壓二極管串聯(lián)耦合的至少一個電阻器，其中跨接所述電阻器的電壓被提供作為所述第一測量類型的信號。
11.根據(jù)權利要求8所述的電路裝置，
其中所述測量電路包括與所述至少一個晶體管串聯(lián)耦合的至少一個電阻器，其中跨接所述電阻器的電壓被提供作為所述第一測量類型的信號。
12.根據(jù)權利要求4所述的電路裝置，
其中所述測量電路包括電流鏡像，所示電流鏡像被配置為對通過所述至少一個反向偏壓二極管的電流進行鏡像以提供所述第一測量類型的信號。
13.根據(jù)權利要求8所述的電路裝置，
其中所述測量電路包括電流鏡像，所示電流鏡像被配置為對通過所述至少一個晶體管的電流進行鏡像以提供所述第一測量類型的信號。
14.根據(jù)權利要求1所述的電路裝置，進一步包括：
至少一個另外的保護電路，其耦合至所述接口，其中所述至少一個另外的保護電路被配置為將所述接口所提供的電壓限制為至少一個另外的保護電壓。
15.根據(jù)權利要求14所述的電路裝置，
其中所述至少一個另外的保護電路通過至少一個電阻器而耦合至所述接口所提供的電壓。
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