[發明專利]非接觸式集成電路讀取器、檢測方法、檢測電路及其系統

有效

• 申請號: 201410093062.1
• 申請日: 2014-03-13
• 公開（公告）號: CN104050432B
• 公開（公告）日: 2018-07-06
• 發明（設計）人: 金俊鎬;盧衡煥;宋壹種
• 申請（專利權）人: 三星電子株式會社
• 主分類號: G06K7/00
• 分類號: G06K7/00
• 代理公司: 北京銘碩知識產權代理有限公司 11286
• 代理人: 曾世驍;魯恭誠

1.一種非接觸式集成電路IC卡讀取器的檢測方法，所述方法包括：

在校準階段中，計算在第一轉變間隔期間的至少一個第一磁脈沖的第一轉變時間，其中，所述至少一個第一磁脈沖在第一轉變時間期間從第一電平至參考電平之間變化；

在檢測階段中，計算在第二轉變間隔期間的第二磁脈沖的第二轉變時間，其中，第二磁脈沖在第二轉變時間期間從第二電平至參考電平之間變化；以及

基于第一轉變時間和第二轉變時間的比較來確定非接觸式IC卡是否在非接觸式IC卡讀取器的通信范圍之內，

其中，校準階段對應于確定非接觸式IC卡在非接觸式IC卡讀取器的通信覆蓋范圍之外的間隔。

2.如權利要求1所述的檢測方法，其中，計算第一轉變時間的步驟包括：

在所述第一磁脈沖的電平開始變化的第一轉變間隔的第一開始點處觸發計數操作；

在所述至少一個磁脈沖的電平達到參考電平的第一轉變間隔的第一結束點處將第一計數值鎖存為第一數字代碼；以及

存儲第一數字代碼。

3.如權利要求2所述的檢測方法，其中，計算第二轉變時間的步驟包括：

在第二磁脈沖的電平開始變化的第二轉變間隔的第二開始點處觸發計數操作；以及

在第二磁脈沖的電平達到參考電平的第二轉變時間間隔的第二結束點處將第二計數值鎖存為第二數字代碼。

4.如權利要求3所述的檢測方法，其中，確定非接觸式IC卡是否在非接觸式IC卡讀取器的通信范圍之內的步驟包括：

將第一數字代碼與第二數字代碼進行比較；以及

基于第一數字代碼和第二數字代碼的比較來提供檢測信號，其中，檢測信號指示非接觸式IC卡是否在非接觸式IC卡讀取器的通信范圍之內。

5.如權利要求3所述的檢測方法，其中，第一數字代碼和第二數字代碼分別對應于在第一轉變間隔和第二轉變間隔期間的計數脈沖的數量。

6.如權利要求5所述的檢測方法，還包括：

調整計數脈沖的周期。

7.如權利要求1所述的檢測方法，其中，基于非接觸式IC卡是否在非接觸式IC卡讀取器的通信范圍之內的確定,被確定非接觸式IC卡讀取器的操作模式。

8.如權利要求7所述的檢測方法，還包括：

當非接觸式IC卡被確定為在通信范圍之內時，將非接觸式IC卡讀取器的操作模式從待機模式改變為激活模式。

9.如權利要求1所述的檢測方法，其中：

所述至少一個第一磁脈沖包括多個第一磁脈沖，并且

計算第一轉變時間的步驟包括：

計算所述多個第一磁脈沖中的每一個的從第一電平到參考電平的第一子轉變時間；以及

對第一子轉變時間進行平均，以提供與第一轉變時間對應的平均值并基于第一子轉變時間的平均值確定偏移，所述偏移對應于第一子轉變時間的誤差范圍。

10.如權利要求9所述的檢測方法，其中，確定非接觸式IC卡是否在非接觸式IC讀取器的通信范圍之內的步驟包括：

確定第二轉變時間是否在偏移之內。

11.如權利要求1所述的檢測方法，其中：

所述至少一個第一磁脈沖包括多個第一磁脈沖，并且

計算第一轉變時間的步驟包括：

計算所述多個第一磁脈沖中的每一個的從第一正常電平到參考電平的第一子轉變時間；以及

基于第一子轉變時間的分布來提供第一轉變時間的范圍。

12.如權利要求11所述的檢測方法，其中，確定非接觸式IC卡是否在非接觸式IC卡讀取器的通信范圍之內的步驟包括：確定第二轉變時間是否在第一轉變時間的范圍之內。