[發明專利]一種無線二合一鼠標端芯片的批量測試方法

有效

• 申請號: 201410092315.3
• 申請日: 2014-03-13
• 公開（公告）號: CN103884979A
• 公開（公告）日: 2014-06-25
• 發明（設計）人: 譚一成
• 申請（專利權）人: 江蘇鉅芯集成電路技術有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京中恒高博知識產權代理有限公司 11249
• 代理人: 劉洪京

技術領域

本發明涉及鼠標技術領域，具體地，涉及一種無線二合一鼠標端芯片的批量測試方法。

背景技術

無線鼠標二合一芯片是集RF與MCU于一體的集成芯片，可靈活的搭配一顆光學Sensor就可以完成無線鼠標的發射端。然而，由于封裝工藝或者內部RF的原因，會導致其RF數據傳輸功能不良。所以在產品批量出貨前，對RF數據傳輸的測試非常關鍵。

但是，由于射頻產品在批量測試時，容易出現相互之間的干擾，大大影響批量測試的效率與準確性。

在實現本發明的過程中，發明人發現現有技術中至少存在抗干擾能力弱、測試效率低和準確性差等缺陷。

發明內容

本發明的目的在于，針對上述問題，提出一種無線二合一鼠標端芯片的批量測試方法，以實現抗干擾能力強、測試效率高和準確性好的優點。

為實現上述目的，本發明采用的技術方案是：一種無線二合一鼠標端芯片的批量測試方法，主要包括：

a、給發射端的待測二合一芯片直接搭配模擬傳感器后，給待測二合一芯片上電；該模擬傳感器具有自定義的傳感器ID和版本號；

b、讀取與待測二合一芯片搭配的傳感器ID，根據該傳感器ID，對待測二合一芯片進行測試。

進一步地，在步驟b中，所述根據該傳感器ID，對待測二合一芯片進行測試的操作，具體包括：

芯片上電后，讀取傳器ID，當該傳感器ID不是預設的自定義測試模式ID時，二合一芯片進入正常普通工作模式，反之進入測試模式。

進一步地，在步驟b中，所述根據該傳感器ID，對待測二合一芯片進行測試的操作，具體包括：

當該傳感器ID是預設的自定義測試模式ID時，進入測試模式；進入測試模式后，自動啟動在二合一芯片里內置的無線通信測試代碼，內置的測試代碼會根據讀取的ID設置無線數據傳輸所需要數據包格式的同步字段與載波頻率；

同時，測試系統也設置與二合一芯片同樣的數據包格式；

根據上述獲得的同步字段與載波頻率，在待測二合一芯片與測試系統之間，進行收發數據測試；測試系統是一個與二合一芯片之間完成無線收發數據的裝置，測試系統內部主要由控制器與RF收發器構成。

本發明各實施例的無線二合一鼠標端芯片的批量測試方法，由于主要包括：給發射端的待測二合一芯片直接搭配模擬傳感器后，給待測二合一芯片上電；該模擬傳感器具有自定義的傳感器ID和版本號；讀取與待測二合一芯片搭配的傳感器ID，根據該傳感器ID，對待測二合一芯片進行測試；可以解決無線鼠標二合一集成芯片測試的問題，大大提高了產品在市場的良品率有效率；從而可以克服現有技術中抗干擾能力弱、測試效率低和準確性差的缺陷，以實現抗干擾能力強、測試效率高和準確性好的優點。

本發明的其它特征和優點將在隨后的說明書中闡述，并且，部分地從說明書中變得顯而易見，或者通過實施本發明而了解。

下面通過附圖和實施例，對本發明的技術方案做進一步的詳細描述。

附圖說明

附圖用來提供對本發明的進一步理解，并且構成說明書的一部分，與本發明的實施例一起用于解釋本發明，并不構成對本發明的限制。在附圖中：

圖1為本發明無線二合一鼠標端芯片的批量測試方法中被測芯片的測試流程圖；

圖2為本發明無線二合一鼠標端芯片的批量測試方法中測試系統的配置流程圖。

具體實施方式

以下結合附圖對本發明的優選實施例進行說明，應當理解，此處所描述的優選實施例僅用于說明和解釋本發明，并不用于限定本發明。

根據本發明實施例，如圖1和圖2所示，提供了一種無線二合一鼠標端芯片的批量測試方法。該無線二合一鼠標端芯片的批量測試方法，解決無線鼠標二合一集成芯片測試的問題，大大提高了產品在市場的良品率有效率。

本實施例的無線二合一鼠標端芯片的批量測試方法，主要包括：

a、給發射端的待測二合一芯片直接搭配模擬傳感器后，給待測二合一芯片上電；該模擬傳感器具有自定義的傳感器ID和版本號；

b、讀取與待測二合一芯片搭配的傳感器ID，根據該傳感器ID，對待測二合一芯片進行測試；

在步驟b中，所述根據該傳感器ID，對待測二合一芯片進行測試的操作，具體包括：

芯片上電后，讀取傳器ID，當該傳感器ID不是預設的自定義測試模式ID時，二合一芯片進入正常普通工作模式，反之進入測試模式；

和/或，在步驟b中，所述根據該傳感器ID，對待測二合一芯片進行測試的操作，具體包括：