[發明專利]一種測定包膜鈦白中元素成分的方法

有效

• 申請號: 201410090074.9
• 申請日: 2014-03-12
• 公開（公告）號: CN103852481A
• 公開（公告）日: 2014-06-11
• 發明（設計）人: 成勇;彭慧仙;袁金紅
• 申請（專利權）人: 攀鋼集團攀枝花鋼鐵研究院有限公司
• 主分類號: G01N23/223
• 分類號: G01N23/223;G01N21/73
• 代理公司: 北京銘碩知識產權代理有限公司 11286
• 代理人: 邢偉;張云珠

1.一種測定包膜鈦白中元素成分的方法，其特征在于，所述方法包括步驟：

A、選取一種預定包膜鈦白生產工藝所生產得到的成分含量不同的多個包膜鈦白樣品，所述多個包膜鈦白樣品中的每個包膜鈦白樣品分為兩份；

B、采用微波加熱方式消解所述每個包膜鈦白樣品的第一份，形成多個待測樣品溶液，通過電感耦合等離子體原子發射光譜法測得所述每個待測樣品溶液中各元素的成分含量；采用粉末壓片法將所述每個包膜鈦白樣品的第二份直接壓制成型以作為X射線熒光光譜法的多個校準樣片，通過X射線熒光光譜法測得所述每個校準樣片中各元素成分的熒光強度；

C、將步驟B中X射線熒光光譜法所測得的每個包膜鈦白樣品的每種元素的熒光強度與步驟B中電感耦合等離子體原子發射光譜法所測得的該包膜鈦白樣品中該元素的成分含量進行關聯，從而形成每種元素的校準曲線；

D、采用與步驟B中所述的粉末壓片法相同的方法將待測包膜鈦白樣品直接壓制成型以得到待測樣片，通過X射線熒光光譜法測得所述待測樣片中待測元素的熒光強度，其中，所述待測包膜鈦白樣品為所述預定包膜鈦白生產工藝所生產得到的任一批次的鈦白產品；

E、根據步驟D所得到的待測元素的熒光強度，結合步驟C中該元素的校準曲線，計算得出待測包膜鈦白樣品中該待測元素的成分含量。

2.根據權利要求1所述的測定包膜鈦白中元素成分的方法，其特征在于，所述步驟A中采用微波加熱方式消解的步驟包括將所述每個包膜鈦白樣品的第一份與硫酸、硝酸和氫氟酸混合，并依次在溫度為195～210℃的階段和溫度為220～235℃的階段進行密閉消解。

3.根據權利要求1所述的測定包膜鈦白中元素成分的方法，其特征在于，所述步驟C以熒光強度為縱坐標并以成分含量為橫坐標，將步驟B中所測得的每個包膜鈦白樣品的每種元素的熒光強度與步驟B中所測得的該包膜鈦白樣品中該元素的成分含量進行關聯，從而形成每種元素的校準曲線。

4.根據權利要求1所述的測定包膜鈦白中元素成分的方法，其特征在于，所述步驟B中，通過多次電感耦合等離子體原子發射光譜法測得所述每個待測樣品溶液中各元素中每種元素的多個成分含量，并以所述每種元素的多個成分含量的平均值作為該元素的成分含量。

5.根據權利要求1所述的測定包膜鈦白中元素成分的方法，其特征在于，所述待測元素為鋯、硅、鋁、磷、鈮、鐵、鉻、錳、銅中的一種或兩種以上。