[發明專利]用于解剖學測量的卡尺及其測量方法

在審

• 申請號: 201410089292.0
• 申請日: 2014-03-12
• 公開（公告）號: CN103800014A
• 公開（公告）日: 2014-05-21
• 發明（設計）人: 張文龍;趙剛
• 申請（專利權）人: 張文龍;趙剛
• 主分類號: A61B5/107
• 分類號: A61B5/107
• 代理公司: 唐山永和專利商標事務所 13103
• 代理人: 明淑娟

技術領域

本發明涉及解剖學用測量尺，特別是一種用于解剖學測量的卡尺及其測量方法。

背景技術

解剖實驗中常常需要測量微細血管、神經的直徑、長度等數據。由于解剖結構精細，測量范圍經常在幾毫米，甚至不足1毫米。常規測量尺達不到測量精確度，而且不能測量管狀結構的直徑，游標卡尺可以精確到0.02毫米，但對于深部結果的測量，操作十分不便，而且游標和主尺間摩擦力較大，測量精細結構時常常被測量結構卡壓變形。

發明內容

本發明的目的在于提供一種能夠簡便精確測量的測量卡尺及測量方法。

本發明采用如下技術方案：

一種用于解剖學測量的卡尺，包括測量臂，操作臂，卷尺，操作臂上連接測量臂，測量臂中的第一測量臂和第二測量臂兩者結構相同，第一測量臂和第二測量臂兩者呈上、下完全重合在一起的結構或兩者左、右相接觸的結構狀態；操作臂中的第一操作臂和第二操作臂通過銷軸鉸接，第一操作臂與第二操作臂兩者的長度相等，第二操作臂上裝有卷尺，卷尺伸出端裝在第一操作臂上。

采用上述技術方案的本發明與現有技術相比，具有：操作簡單，測量精確的優點。

本發明的優選方案是：

第二操作臂和第一操作臂兩者遠離測量臂的延伸端分別設置有尖端凸起點，兩者的凸起點相重合設置；第一測量臂或第二測量臂的對稱中心與凸起點、銷軸的中心位于同一條直線上，或：第一測量臂和第二測量臂兩者的對稱中心與凸起點、銷軸的中心位于同一條直線上。

第一操作臂和第二操作臂的凸起點與卷尺“0”刻度線相對齊；第二操作臂與第一操作臂兩者呈完全重合狀態設置。

第二操作臂遠離第二測量臂的延伸端裝有卷尺。

第一操作臂靠近第一測量臂的一端與第二操作臂鉸接。

操作臂的延伸端到銷軸軸心的長度是測量臂的延伸端至銷軸軸心長度的十倍或二十倍。

卷尺由金屬制成，最小測量長度是0.5毫米。

操作臂外側裝有操作手柄。

本發明所采用的測量方法是：

首先，將第一、第二測量臂部分伸入到解剖組織內；其次，再操作第一、第二操作臂使兩者呈張開狀態，卷尺的一端也隨第一操作臂移動，第一、第二測量臂也張開與第一、第二操作臂同樣的角度，第一、第二測量臂卡住所需測量結構；即可以從第二操作臂的卷尺上讀取數據。

上述測量方法，操作簡單，讀取數據準確。

優選測量方法是：

從第二操作臂上所讀取的數據除以10或除以20，即得到所測量部位的確切值。

附圖說明

圖1是本發明的結構示意圖。

圖2是本發明張開時的讀數狀態圖。

圖3是圖2中的B部放大圖。

圖4是圖1中的A向視圖。

具體實施方式

下面結合附圖及實施例詳述發明：

一種用于解剖學測量的卡尺，參見附圖1、附圖2和附圖3，圖中：第一測量臂1、第二測量臂2、銷軸3、第一操作臂4、第二操作臂5、卷尺6、第二操作柄7、第一操作柄8、第二凸起點9、第一凸起點10、標線11、角度盤12。

本實施例中，第一操作臂4上連接第一測量臂1，第二操作臂5上連接第二測量臂2。

第一測量臂1和第二測量臂2兩者結構相同，第一測量臂1和第二測量臂2兩者呈上、下完全重合在一起的結構。

第一操作臂4和第二操作臂5通過銷軸3鉸接，第一操作臂4與第二操作臂5兩者的長度相等，第二操作臂5上裝有卷尺6，卷尺6的伸出端裝在第一操作臂4上。卷尺6由金屬制成，最小測量長度是0.5毫米。

第二操作臂5和第一操作臂4兩者遠離第二測量臂2和第一測量臂1的延伸端分別設置有尖端凸起：第二凸起點10和第一凸起點9（圖1中所示），第二凸起點10和第一凸起點9相重合設置。

第一測量臂1或第二測量臂2的對稱中心與第一凸起點10、第二凸起點9、銷軸3的回轉中心位于同一條直線上。

第一操作臂4的第一凸起點10與卷尺6的“0”刻度線相對齊；第二操作臂5與第一操作臂4兩者呈完全重合狀態設置。

第二操作臂5遠離第二測量臂2的延伸端裝有卷尺6；第一操作臂4靠近第一測量臂1的一端與第二操作臂5通過過銷軸3鉸接。

第一操作臂4的延伸端到銷軸3軸心的長度是第一測量臂1的延伸端至銷軸3軸心長度的十倍；第二操作臂5的延伸端到銷軸3軸心的長度是第二測量臂的延伸端至銷軸3軸心長度的十倍。第一操作臂4和第二操作臂5的鉸接端呈半圓結構，銷軸3的軸心與半圓結構同心設置。