[發(fā)明專利]金屬的高溫?zé)釋?dǎo)率測(cè)量方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201410088926.0
• 申請(qǐng)日: 2014-03-11
• 公開（公告）號(hào): CN103940845B
• 公開（公告）日: 2017-01-18
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 宋芳芳;何小琦;恩云飛;黃彩然;許沙
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 工業(yè)和信息化部電子第五研究所
• 主分類號(hào): G01N25/20
• 分類號(hào): G01N25/20
• 代理公司: 廣州華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司44224
• 代理人: 黃曉慶,王茹

1.一種金屬的高溫?zé)釋?dǎo)率測(cè)量方法，其特征在于，包括步驟：

獲取金屬樣品在不同溫度下的熱擴(kuò)散系數(shù)，其中，所述溫度為所述金屬樣品氧化溫度之外的溫度；

根據(jù)所述熱擴(kuò)散系數(shù)、所述金屬樣品的密度和比熱容獲得對(duì)應(yīng)溫度下的熱導(dǎo)率；

根據(jù)各組溫度、熱導(dǎo)率數(shù)據(jù)，并采用最小二乘法獲取多組溫度與熱導(dǎo)率的初始化擬合回歸方程；

將各組初始化擬合回歸方程根據(jù)所述溫度、熱導(dǎo)率進(jìn)行擬合優(yōu)度檢驗(yàn)，建立溫度與熱導(dǎo)率的擬合回歸模型；

根據(jù)所述擬合回歸模型確定不同高溫下的熱導(dǎo)率。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的金屬的高溫?zé)釋?dǎo)率測(cè)量方法，其特征在于，所述獲取金屬樣品在不同溫度下的熱擴(kuò)散系數(shù)步驟之前，還包括制備金屬樣品，包括：

將初始金屬樣品先粗磨后細(xì)磨，獲得高度方向上的兩平面平行且邊緣光滑的所述金屬樣品，其中，所述金屬樣品為預(yù)設(shè)長(zhǎng)、預(yù)設(shè)寬和預(yù)設(shè)高度的金屬方塊。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的金屬的高溫?zé)釋?dǎo)率測(cè)量方法，其特征在于，所述將初始金屬樣品先粗磨后細(xì)磨步驟之后，還包括：

將金屬方塊表面用丙酮擦洗、拋光，并用石墨進(jìn)行均勻涂覆，每個(gè)面涂覆兩次，第二次涂覆在第一次涂覆干燥后進(jìn)行，獲得所述金屬樣品。

4.根據(jù)權(quán)利要求1至3任意一項(xiàng)所述的金屬的高溫?zé)釋?dǎo)率測(cè)量方法，其特征在于，所述將各組初始化擬合回歸方程根據(jù)所述溫度、熱導(dǎo)率進(jìn)行擬合優(yōu)度檢驗(yàn)，建立溫度與熱導(dǎo)率的擬合回歸模型步驟，包括：

采用以下公式對(duì)各組初始化擬合回歸方程進(jìn)行擬合優(yōu)度檢驗(yàn)，獲得對(duì)應(yīng)的第一擬合優(yōu)度檢驗(yàn)值，

R2=1-Σi=1N(yi-yi^)2Σi=1N(yi-y‾)2]]>

其中，所述初始化擬合回歸方程中因變量表示熱導(dǎo)率，自變量表示溫度，R²表示第一擬合優(yōu)度檢驗(yàn)值，y_i表示第i個(gè)溫度對(duì)應(yīng)的熱導(dǎo)率測(cè)量值，表示擬合歸回模型中第i個(gè)溫度對(duì)應(yīng)的y值，表示y值的平均值，N表示測(cè)試數(shù)據(jù)個(gè)數(shù)；

將最大的第一擬合優(yōu)度檢驗(yàn)值對(duì)應(yīng)的初始化擬合回歸方程設(shè)置為擬合回歸模型。

5.根據(jù)權(quán)利要求1至3任意一項(xiàng)所述的金屬的高溫?zé)釋?dǎo)率測(cè)量方法，其特征在于，所述將各組初始化擬合回歸方程根據(jù)所述溫度、熱導(dǎo)率進(jìn)行擬合優(yōu)度檢驗(yàn)，建立溫度與熱導(dǎo)率的擬合回歸模型步驟，包括：

采用以下公式對(duì)各組初始化擬合回歸方程進(jìn)行擬合優(yōu)度檢驗(yàn)，獲得對(duì)應(yīng)的第二擬合優(yōu)度檢驗(yàn)值，

Se=Σi=1n(yi-yi^)2n-k-1]]>

其中，所述初始化擬合回歸方程中因變量表示熱導(dǎo)率，自變量表示溫度，S_e表示第二擬合優(yōu)度檢驗(yàn)值，y_i表示第i個(gè)溫度對(duì)應(yīng)的熱導(dǎo)率測(cè)量值，表示擬合歸回模型中第i個(gè)溫度對(duì)應(yīng)的y值，n表示測(cè)試數(shù)據(jù)個(gè)數(shù)，k表示自變量個(gè)數(shù)；

將最小第二擬合優(yōu)度檢驗(yàn)值對(duì)應(yīng)的初始化擬合回歸方程設(shè)置為擬合回歸模型。