[發明專利]應用電阻率成像測井資料連續定量評價儲層非均質特征的方法在審
| 申請號: | 201410086722.3 | 申請日: | 2014-03-11 |
| 公開(公告)號: | CN104912547A | 公開(公告)日: | 2015-09-16 |
| 發明(設計)人: | 張德峰;劉偉;劉海河;潘敏;劉云蘭 | 申請(專利權)人: | 中國石油化工集團公司;中石化勝利石油工程有限公司測井公司 |
| 主分類號: | E21B49/00 | 分類號: | E21B49/00 |
| 代理公司: | 東營雙橋專利代理有限責任公司 37107 | 代理人: | 侯華頌 |
| 地址: | 100728 北*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 應用 電阻率 成像 測井 資料 連續 定量 評價 儲層非均質 特征 方法 | ||
1.一種應用電阻率成像測井資料連續定量評價儲層非均質特征的方法,其特征是:首先應用地層因素公式將電阻率成像數據轉換為孔隙度,然后統計每個深度沿井周分布的孔隙度,形成非均質特征譜,提取反應儲層非均質特征的定量參數。
2.根據權利要求1所述的應用電阻率成像測井資料連續定量評價儲層非均質特征的方法,其特征是具體步驟如下:
步驟(1)將電阻率成像測井資料得到的地層電阻率信息代入地層因素公式,在常規孔隙度測井資料約束下,將每個深度點沿井周分布的電阻率數據轉換為孔隙度;
步驟(2)剔除孔隙度異常數據,將孔隙度大小在0-40%范圍內進行等分,統計每個深度點孔隙度分布在不同區域內的百分比,建立分布直方圖,形成非均質特征譜;
步驟(3)對非均質特征譜分析,提取每個深度點沿井周分布的非均質特征參數,反應儲層沿井周分布的非均質特征;
步驟(4)應用建立的非均質特征譜和非均質特征參數進行巖性識別、儲層有效性分類和剩余油分布的分析。
3.根據權利要求2所述的應用電阻率成像測井資料連續定量評價儲層非均質特征的方法,其特征是:步驟(3)中提取每個深度點沿井周分布的非均質特征參數包括非均質特征譜的均值、均質系數、方差、峰值大小和品質因子參數。
4.根據權利要求2或3所述的應用電阻率成像測井資料連續定量評價儲層非均質特征的方法,其特征是:步驟(2)剔除孔隙度異常數據包括由于壞電極因素引起的孔隙度異常數據。
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