[發明專利]一種任意波形失真度的確定方法在審
| 申請號: | 201410086501.6 | 申請日: | 2014-03-10 |
| 公開(公告)號: | CN103823120A | 公開(公告)日: | 2014-05-28 |
| 發明(設計)人: | 孫璟宇;王中宇;梁志國 | 申請(專利權)人: | 北京航空航天大學;中國航空工業集團公司北京長城計量測試技術研究所 |
| 主分類號: | G01R29/00 | 分類號: | G01R29/00 |
| 代理公司: | 北京科迪生專利代理有限責任公司 11251 | 代理人: | 成金玉 |
| 地址: | 100191*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 任意 波形 失真度 確定 方法 | ||
1.一種任意波形失真度的確定方法,其特征在于實現步驟如下:
(1)使用波形獲取設備采樣獲得被測任意波形采樣序列,所述任意波形的模型已知;
(2)使用相同的采樣速率采樣任意波形的已知模型,并使用非線性最小二乘擬合搜尋算法,使采樣獲得的采樣序列與實際獲得的被測任意波形采樣序列在時間域上“對準”,得到“對準”的模型采樣序列;
(3)根據搜尋得到的“對準”的模型采樣序列獲得被測任意波形采樣序列的最優期望曲線;
(4)根據獲得的被測任意波形采樣序列及其最優期望曲線計算得到被測任意波形的失真度。
2.根據權利要求1所述的任意波形失真度的確定方法,其特征在于:所述步驟(2)具體實現如下:
(21)使用與實際獲取任意波形時相同的采樣速率采集任意波形的模型,獲得與被測波形采樣序列時間長度一致的模型的采樣序列;
(22)計算二者之間最小二乘意義下的殘差平方根;
(23)通過時間延遲,即在時域上平移模型,在被測任意波形一個周期的時間內,重復上述過程,找到最小殘差平方根所對應的平移模型曲線。
3.根據權利要求1所述的任意波形失真度的確定方法,其特征在于:所述步驟(3)具體實現如下:
(31)在最小二乘意義下,根據上述獲得的平移模型曲線,通過幅度縮放與直流偏置,獲得與實測任意波形最佳的擬合曲線,即最優期望曲線。
4.根據權利要求1所述的任意波形失真度的確定方法,其特征在于:所述步驟(4)具體計算過程實現如下:
(41)根據任意波形失真度的定義,計算獲得的被測任意波形數據的總體失真度;
(42)上述計算的總體失真度中包含了波形獲取設備引入的誤差,修正掉該誤差,即得到被測任意波形的失真度。
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