[發明專利]光學元件測量裝置和測量方法

有效

• 申請號: 201410083597.0
• 申請日: 2014-03-07
• 公開（公告）號: CN103884489A
• 公開（公告）日: 2014-06-25
• 發明（設計）人: 張玉奇;王江峰;黃文發;彭宇杰;喬治;蔣志龍
• 申請（專利權）人: 中國科學院上海光學精密機械研究所
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 上海新天專利代理有限公司 31213
• 代理人: 張澤純

1.一種光學元件測量裝置，其特征在于：該裝置包括連續光纖激光器（1），沿該連續光纖激光器（1）的輸出光束方向依次是光纖準直器（2）、第一偏振分光棱鏡（3）、半波片（4）、標準法拉第旋光器（5）、第二偏振分光棱鏡（6）、待測光學元件置放臺（7）、全反射鏡（8）和第三偏振分光棱鏡（9）。

2.利用權利要求1所述的測量裝置對法拉第旋光器的測試方法，其特征在于，該方法包括下列步驟：

①放入待測法拉第旋光器（71）前，啟動所述的連續光纖激光器（1），將功率計分別置于所述的第一偏振分光棱鏡（3）后的光路中（C處）測量的光功率為P_C、和標準法拉第旋光器（5）后的光路中（B處）測量的光功率為P_B，則所述的半波片（4）+標準法拉第旋光器（5）的透過率為a%=P_B/P_C，將所述的全反鏡（8）放置在光路中，將待測法拉第旋光器（71）置于待測光學元件置放臺（7）上的光路中；

②啟動所述的連續光纖激光器（1），該連續光纖激光器（1）的輸出光經光纖準直器（2）耦合后輸出連續光，經第一偏振分光棱鏡（3）變為P光，經半波片（4）和標準法拉第旋光器（5）后仍為P光，經第二偏振分光棱鏡（6）和待測法拉第旋光器（71），經過全反射鏡（8）的反射光依次通過待測法拉第旋光器（71）、第二偏振分光棱鏡（6）、標準法拉第旋光器（5）和半波片（4）后變為S光，該S光經第一偏振分光棱鏡（3）反射輸出，即所述的第一偏振分光棱鏡（3）的反射光束方向（A處）；

③將光功率計置于所述的第一偏振分光棱鏡（3）的反射光束方向（A處）測量光功率值P_A，按下式計算待測法拉第旋光器（71）的隔離比：

b=a%*PBPA=PB2/(PC*PA),]]>

將該值與待測法拉第旋光器（71）預期隔離比進行比較決定是否可用。