[發(fā)明專利]一種分光瞳激光差動共焦拉曼光譜測試方法及裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410083285.X | 申請日: | 2014-03-07 |
| 公開(公告)號: | CN103969239A | 公開(公告)日: | 2014-08-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 趙維謙;盛忠;邱麗榮;邵榮君 | 申請(專利權(quán))人: | 北京理工大學(xué) |
| 主分類號: | G01N21/65 | 分類號: | G01N21/65;G01J3/44 |
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| 地址: | 100081 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 分光 激光 差動 共焦拉曼 光譜 測試 方法 裝置 | ||
1.一種分光瞳激光差動共焦拉曼光譜測試方法,其特征在于包括以下步驟:
首先,在測量物鏡(2)的光瞳面上放置照明光瞳(3)和收集光瞳(4);光源系統(tǒng)(1)發(fā)出激發(fā)光束,激發(fā)光束透過照明光瞳(3)后,聚焦在被測樣品(5)上,激發(fā)出載有被測樣品(5)光譜特性的拉曼散射光,同時反射出瑞利光;拉曼散射光和瑞利光經(jīng)收集光瞳(4)后到達二向色分光系統(tǒng)(6);二向色分光系統(tǒng)(6)對拉曼散射光和瑞利光進行無損分離;
經(jīng)二向色分光系統(tǒng)(6)反射的瑞利光進入分光瞳激光差動共焦探測系統(tǒng)(11);分光瞳激光差動共焦探測系統(tǒng)(11)利用探測器橫向偏移能夠使分光瞳共焦顯微系統(tǒng)的軸向響應(yīng)特性曲線產(chǎn)生相移的特性,采用單光路、單探測器分割焦斑差動方法,實現(xiàn)對被測樣品(5)微區(qū)幾何位置的探測,具體過程為:對接收瑞利光的分光瞳激光差動共焦探測系統(tǒng)(11)所獲得的探測光斑進行分割處理,得到探測區(qū)域A和探測區(qū)域B;當(dāng)對A、B兩個探測區(qū)域的信號進行差動相減處理時,能夠進行高空間分辨的三維尺度層析成像;
與此同時,經(jīng)二向色分光系統(tǒng)(6)透射的拉曼散射光進入拉曼光譜探測系統(tǒng)(7),利用分光瞳激光差動共焦響應(yīng)曲線(29)的“過零點”與測量物鏡焦點位置精確對應(yīng)特性,將分光瞳激光差動共焦響應(yīng)曲線的“過零點”精確對應(yīng)測量物鏡的焦點,通過“過零點”觸發(fā)來精確捕獲激發(fā)光斑焦點位置的光譜信息,實現(xiàn)高空間分辨的光譜探測。
當(dāng)對接收拉曼散射光的拉曼光譜探測系統(tǒng)獲得的光譜信號進行處理時,系統(tǒng)能夠進行拉曼光譜探測;當(dāng)對接收瑞利光的分光瞳激光差動共焦探測系統(tǒng)獲得的差動信號和接收拉曼散射光的拉曼光譜探測系統(tǒng)獲得的光譜信號進行處理時,系統(tǒng)能夠進行高空間分辨的微區(qū)圖譜層析成像,即實現(xiàn)對被測樣品“圖譜合一”的分光瞳激光差動共焦拉曼光譜高空間分辨成像與探測。
2.根據(jù)權(quán)利1所述的分光瞳激光差動共焦拉曼光譜測試方法,其特征在于:照明光瞳(3)和收集光瞳(4)可以是圓形的;還可以是D形或者其他形狀。
3.根據(jù)權(quán)利1所述的分光瞳激光差動共焦拉曼光譜測試方法,其特征在于:激發(fā)光束可以是線偏光、圓偏光等偏振光束;還可以是由光瞳濾波技術(shù)生成的結(jié)構(gòu)光束,偏振光與光瞳濾波技術(shù)結(jié)合可以壓縮測量聚焦光斑尺寸,提高系統(tǒng)的橫向分辨力。
4.根據(jù)權(quán)利1所述的分光瞳激光差動共焦拉曼光譜測試方法,其特征在于:該系統(tǒng)還可以探測包括熒光、布里淵散射光、康普頓散射光等的散射光譜。
5.一種分光瞳激光差動共焦拉曼光譜測試裝置,其特征在于:包括產(chǎn)生激發(fā)光束的光源系統(tǒng)(1)、測量物鏡(2)、照明光瞳(3)、收集光瞳(4)、二向色分光裝置(6)、拉曼光譜探測裝置(7)、分光瞳激光差動共焦探測裝置(11)、三維掃描裝置(16)、位移傳感器(17)以及數(shù)據(jù)處理單元(18);
其中,在測量物鏡(2)的光瞳面上放置照明光瞳(3)和收集光瞳(4),照明光瞳(3)和測量物鏡(2)依次位于光源系統(tǒng)(1)的激發(fā)光束出射方向上,照明光瞳(3)與激發(fā)光束同軸;二向色分光系統(tǒng)(6)位于收集光瞳(4)之后;拉曼光譜探測系統(tǒng)(7)位于二向色分光系統(tǒng)(6)的透射方向上;分光瞳激光差動共焦探測系統(tǒng)(11)位于二向分光系統(tǒng)(6)的反射方向上;被測樣品(5)固定在三維掃描裝置(16)的載物臺上;
數(shù)據(jù)處理單元(18)包括分割焦斑探測模塊(19)、差動相減模塊(20)和數(shù)據(jù)融合模塊(21);其中,分割焦斑探測模塊(19)和差動相減模塊(20)用于處理圖像采集系統(tǒng)(13)探測到的光斑,得到分光瞳激光差動共焦響應(yīng)曲線(29),由此得到被測樣品(5)的位置信息;數(shù)據(jù)融合模塊(21)用于融合位置信息和光譜信息,完成被測樣品(5)的三維重構(gòu)及光譜信息融合;三者關(guān)聯(lián)關(guān)系為:分割焦斑探測模塊(19)將圖像采集系統(tǒng)(13)采集到的艾利斑進行分割并探測,得到的信號進入差動相減模塊(20)進行差動相減后,得到分光瞳激光差動共焦響應(yīng)曲線(29)進入數(shù)據(jù)融合模塊(21);
計算機處理系統(tǒng)(22)與位移傳感器(17)、三維掃描裝置(16)、數(shù)據(jù)融合模塊(21)相連接;圖像采集系統(tǒng)(13)和分割焦斑探測模塊(19)相連接。數(shù)據(jù)融合模塊(21)與第一探測器(10)相連接;
通過計算機處理系統(tǒng)(22)控制三維掃描裝置(16)移動被測樣品(5),使不同區(qū)域瑞利光及對應(yīng)該區(qū)域被測樣品(5)的拉曼散射光通過測量物鏡(2)和收集光瞳(4)。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





