[發明專利]一種測試三價鍍層鉻層的檢測方法在審
| 申請號: | 201410082728.3 | 申請日: | 2014-03-07 |
| 公開(公告)號: | CN104006752A | 公開(公告)日: | 2014-08-27 |
| 發明(設計)人: | 傅相林;郝俊峰;李輝龍 | 申請(專利權)人: | 寧波信泰機械有限公司 |
| 主分類號: | G01B11/06 | 分類號: | G01B11/06 |
| 代理公司: | 上海泰能知識產權代理事務所 31233 | 代理人: | 宋纓;孫健 |
| 地址: | 315000 浙江*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 測試 鍍層 檢測 方法 | ||
技術領域
本發明屬于汽車零部件產品檢測技術領域,涉及一種測試三價鍍層鉻層的檢測方法。
背景技術
目前測試三價鉻的方法有電解法、X熒光測試法及SEM測試法,但目前電解法針對三價層有很大的偏差,原因是三價鉻的成份和六價鉻的成份和含量不一樣,所以導致測試結果的差異。而X熒光測試法同樣存在這樣的問題,利用SEM測試法,由于三價鉻比較薄,且不能分辨出顏色差異,所用測量有很大的差異,目前電解法利用電化學電解的方法,通過計算電量的方法來測試三價鉻的厚度,但三價鉻由于成分和結構的差異,到時檢測結果不準確,X熒光法同樣由于三價鉻成分和結構的差異,導致檢測結果又很大的差異,SEM利用斷面測試,由于不能分辨顏色且由于鉻層很薄,只有0.1-0.3微米,測量不確定度很大,且制樣繁瑣。
發明內容
本發明所要解決的技術問題是針對現有技術的現狀,而提供一種利用激光顯微鏡通過測定高度差原理,來提升測量三價鉻的測試準確性,以此來測試三價鍍層鉻層的檢測方法。
本發明解決上述技術問題所采用的技術方案為:一種測試三價鍍層鉻層的檢測方法,該檢測方法包括以下步驟:
步驟一:對需檢測的樣品進行切割;
步驟二:除去部分樣品上的三價鉻,使得樣品呈現有鉻層區和無鉻層區,去除三價鉻層利用的藥水為濃度37%的配方液進行去除;
步驟三:將樣品放在激光顯微鏡的測量臺上,調整顯微鏡的放大倍數;
步驟四:將激光顯微鏡調整到有鉻層和無鉻層的區域;
步驟五:通過測量多點有鉻層區域的高度S1和多點無鉻層區域的高度S2,通過有鉻層和無鉻層的高度差(S1-S2)來得出三價鉻的厚度。
在上述的一種測試三價鍍層鉻層的檢測方法,所述的配方液為過硫酸銨和硝酸銀,所述的過硫酸銨為氧化劑,所述的硝酸銀為接觸劑,反應的公式如下:Cr2(SO4)3+3(NH4)2S2O8+8H2O=2H2Cr2O4+3(NH4)2S2O4+6H2SO4。
在上述的一種測試三價鍍層鉻層的檢測方法,所述的配方液為硫磷混合酸溶液:硫酸:磷酸:水=150mL:150mL:700mL。這里也可以采用硫磷和磷酸的混合酸溶液,這是由于采用過硫酸銨時反應時間過長,而且當溶液中酸度過高時,三價鉻被氧化成六價的過程進行得很慢,而溶液中的過硫酸銨可將六價鉻還原成三價。因此必須嚴格控制硫酸的濃度和氧化的時間,若硫酸的濃度過高,氧化時間過長,三價鉻不但不能被氧化成六價鉻,反而使六價鉻被還原成三價,使得檢測結果出現錯誤,使得檢測結果出現錯誤,可以避免氧化還原滴定法煩瑣的步驟,及可能由于酸度的控制或氧化時間的控制過程中造成的錯誤。
與現有技術相比,本發明的優點在于利用激光顯微鏡通過測定高度差原理,來提升測量三價鉻的測試準確性,準確度為:分辨率可以為0.0005μm,測量重復性為0.012μm,完全可以滿足測試三價鉻的需求,本發明檢測準確、可靠性強。
附圖說明
圖1是測試三價鍍層鉻層的檢測方法分層后的照片。
具體實施方式
以下是本發明的具體實施例并結合附圖,對本發明的技術方案作進一步的描述,但本發明并不限于這些實施例。
本測試三價鍍層鉻層的檢測方法主要是利用激光顯微鏡通過測定高度差原理,來提升測量三價鉻的測試準確性,在檢測前首先配置濃度為37%的配方液,這里配方液是極為重要的,配方液要求能夠完全去掉三價鉻,配方液有兩種方式,配方液一為過硫酸銨和硝酸銀,所述的過硫酸銨為氧化劑,所述的硝酸銀為接觸劑,反應的公式如下:Cr2(SO4)3+3(NH4)2S2O8+8H2O=2H2Cr2O4+3(NH4)2S2O4+6H2SO4。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于寧波信泰機械有限公司,未經寧波信泰機械有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201410082728.3/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





