[發(fā)明專利]一種絕緣測試的控制模塊有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410080878.0 | 申請日: | 2014-03-06 |
| 公開(公告)號: | CN104898464B | 公開(公告)日: | 2017-11-07 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 黃俊華;王星;翟學濤;楊朝輝;高云峰 | 申請(專利權(quán))人: | 大族激光科技產(chǎn)業(yè)集團股份有限公司;深圳市大族數(shù)控科技有限公司 |
| 主分類號: | G05B19/04 | 分類號: | G05B19/04;G01R31/12;G01R31/28 |
| 代理公司: | 深圳市世聯(lián)合知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司44385 | 代理人: | 汪琳琳 |
| 地址: | 518000 廣東省深*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 絕緣 測試 控制 模塊 | ||
1.一種絕緣測試的控制模塊,所述控制模塊包括邏輯處理模塊(2),其特征在于:所述控制模塊還包括,
至少兩個接觸探測傳感器(1),用于感應(yīng)飛針測試機的測試探針是否與被測PCB穩(wěn)定接觸,并輸出是否穩(wěn)定接觸的電平信號;
邏輯處理模塊(2)與接觸探測傳感器(1)連接,邏輯處理模塊(2)用于接收接觸探測傳感器(1)輸出的電平信號,將所述電平信號進行與邏輯處理,并輸出開關(guān)控制信號;
與邏輯處理模塊(2)連接的測試數(shù)據(jù)信息IO模塊(3),用于提供絕緣測試控制信息;
與邏輯處理模塊(2)連接的開關(guān)控制電路(4),用于接收邏輯處理模塊(2)輸出的開關(guān)控制信號,并根據(jù)開關(guān)控制信號控制開關(guān)控制電路(4)的工作;
以及與開關(guān)控制電路(4)連接的安全保護電路(6),并且所述開關(guān)控制電路(3)還與飛針測試機的測試回路(5)連接,所述開關(guān)控制電路(4)用于根據(jù)邏輯處理模塊(2)輸出的開關(guān)控制信號使飛針測試機的測試探針在測試回路(5)與安全保護電路(6)之間切換。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的絕緣測試的控制模塊,其特征在于:所述邏輯處理模塊(2)包括,
與門邏輯電路(21),用于將接觸探測傳感器(1)輸出的電平信號兩兩組合進行與邏輯處理,并輸出開關(guān)控制信號;
與所述與門邏輯電路(21)連接的多個復用開關(guān)電路(22),用于在多個開關(guān)輸入中選擇一個輸出,每個復用開關(guān)電路(22)的控制端與測試數(shù)據(jù)信息IO模塊(3)連接,每個復用開關(guān)電路(22)的輸入端與與門邏輯電路(21)的輸出端連接;
以及與多個復用開關(guān)電路(22)的輸出端連接的多個同相緩存器(23),用于對復用開關(guān)電路(22)的輸出進行控制和緩沖,并根據(jù)測試數(shù)據(jù)信息IO模塊(3)中的測試狀態(tài)IO信息來控制及輸出開關(guān)控制電路(4)的開關(guān)控制信號來控制安全保護電路(6)的工作,每個同相緩存器(23)的控制端與測試數(shù)據(jù)信息IO模塊(3)連接,每個同相緩存器(23)的輸入端與復用開關(guān)電路(22)的輸出端連接,每個同相緩存器(23)的輸出端與開關(guān)控制電路(4)的控制端連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的絕緣測試的控制模塊,其特征在于:
在所述飛針測試機的測試探針與被測PCB穩(wěn)定接觸時,所述接觸探測傳感器(1)的輸出電平信號為高電平,否則接觸探測傳感器(1)的輸出電平信號為低電平;在處于絕緣測試的兩個探針同時穩(wěn)定接觸被測PCB時,所述與門邏輯電路(21)輸出高電平,否則輸出低電平。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的絕緣測試的控制模塊,其特征在于:
在所述同相緩存器(23)的控制端輸入高電平時,所述開關(guān)控制電路(4)正常輸出開關(guān)控制信號,此時,如果開關(guān)控制信號為高電平時,選通測試回路(5),如果開關(guān)控制信號為低電平時,選通安全保護電路(6);在所述同相緩存器(23)的控制端輸入低電平時,所述開關(guān)控制電路(4)禁止輸出開關(guān)控制信號,絕緣測試處于測試回路(5)中。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的絕緣測試的控制模塊,其特征在于:
在所述開關(guān)控制電路(4)的控制端輸入低電平時,開關(guān)控制電路(4)選通安全保護電路(6),使測試探針處于安全電壓之內(nèi);在所述開關(guān)控制電路(4)的控制端輸入高電平時,開關(guān)控制電路(4)選通測試回路(5),使測試探針處于正常測試過程。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的絕緣測試的控制模塊,其特征在于:所述測試數(shù)據(jù)信息IO模塊(3)提供的絕緣測試控制信息包括測試組合IO信息或測試狀態(tài)IO信息。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的絕緣測試的控制模塊,其特征在于:所述邏輯處理模塊(2)為可編程邏輯處理器。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的絕緣測試的控制模塊,其特征在于:所述安全保護電路(6)為連接在測試源的低電勢端與測試探針之間的電阻器。
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