[發明專利]薄膜檢查用拍攝設備的位置修正方法

在審

• 申請號: 201410080856.4
• 申請日: 2014-03-06
• 公開（公告）號: CN104034728A
• 公開（公告）日: 2014-09-10
• 發明（設計）人: 金種佑;樸宰賢;千正美
• 申請（專利權）人: 東友精細化工有限公司
• 主分類號: G01N21/84
• 分類號: G01N21/84
• 代理公司: 北京同達信恒知識產權代理有限公司 11291
• 代理人: 楊黎峰;李欣

1.一種薄膜檢查用拍攝設備的位置修正方法，其特征在于，具有如下步驟：

將印有規定面積的圖形圖案的修正用薄膜貼附在用于移送薄膜的曲面體的表面；以及

利用拍攝設備拍攝所述曲面體上的修正用薄膜，對比拍攝所獲取的圖像中的圖案的大小與正常狀態的圖像，如果拍攝到的所述圖像中的圖案的大小不足正常狀態的95%或超過105%時，判斷為拍攝設備的垂直位置（拍攝設備與薄膜間的距離）存在異常。

2.如權利要求1所述的薄膜檢查用拍攝設備的位置修正方法，其特征在于，

對比拍攝到的所述圖像中的圖案的位置與正常狀態的圖像，如果拍攝到的所述圖像中的圖案的位置不足正常狀態的95%或超過105%時，判斷為拍攝設備的水平位置存在異常。

3.如權利要求1或2所述的薄膜檢查用拍攝設備的位置修正方法，其特征在于，

所述圖形至少具有各一個相當于橫向及縱向的長度的邊。

4.如權利要求1或2所述的薄膜檢查用拍攝設備的位置修正方法，其特征在于，

所述拍攝設備用于檢查利用曲面體作為移送單元而制造的薄膜。

5.如權利要求1或2所述的薄膜檢查用拍攝設備的位置修正方法，其特征在于，

所述拍攝設備是單個或配置成一列多個拍攝設備。

6.如權利要求1或2所述的薄膜檢查用拍攝設備的位置修正方法，其特征在于，

所述曲面體是輥子。

7.如權利要求1或2所述的薄膜檢查用拍攝設備的位置修正方法，其特征在于，

所述曲面體配置在所述拍攝設備檢查薄膜時用于拍攝薄膜的位置。

8.如權利要求1或2所述的薄膜檢查用拍攝設備的位置修正方法，其特征在于，

所述曲面體用于所述拍攝設備拍攝作為檢查對象的薄膜的位置。

9.如權利要求1或2所述的薄膜檢查用拍攝設備的位置修正方法，其特征在于，

所述薄膜是光學薄膜。