[發明專利]慢盤檢測方法和裝置

有效

• 申請號: 201410078998.7
• 申請日: 2014-03-05
• 公開（公告）號: CN103810062A
• 公開（公告）日: 2014-05-21
• 發明（設計）人: 霍杰
• 申請（專利權）人: 華為技術有限公司
• 主分類號: G06F11/16
• 分類號: G06F11/16
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205
• 代理人: 劉芳

技術領域

本發明實施例涉及計算機技術，尤其涉及一種慢盤檢測方法和裝置。

背景技術

硬盤由于磁頭退化或者其它機械、環境問題，會導致硬盤輸入輸出（IO，Input/Output）響應時間變長，成為慢盤。

在存儲陣列系統中，用戶數據并行存儲到一系列硬盤中，如果某一個硬盤很慢，會導致整體的讀寫操作變慢，嚴重的情況下，會導致業務中斷。因此，需要對存儲陣列中的各盤進行實時檢測確定慢盤，以便及時對慢盤進行隔離或備份。目前，通過將硬盤的IO響應時間與慢盤事件判斷門限進行比較來確定慢盤事件，并且當統計周期內某個硬盤的慢盤事件次數超過一定次數時將該硬盤判定為慢盤的方法來檢測慢盤。其中，采用將存儲陣列中所有硬盤的IO響應時間的平均值作為慢盤事件判斷門限來確定存儲陣列系統中的慢盤事件。

但是，現有技術時常將正常的硬盤判斷為慢盤，誤判率較高。

發明內容

本發明實施例提供一種慢盤檢測方法和裝置。

本發明實施例提供一種慢盤檢測方法，包括：

在檢測周期內，對存儲陣列中各硬盤是否為慢盤進行至少兩次慢盤事件檢測，所述檢測包括：獲取存儲陣列中各硬盤的輸入輸出IO響應時間，將各硬盤的IO響應時間與慢盤事件判斷門限進行比較，確定各硬盤中IO響應時間超過所述慢盤事件判斷門限的硬盤出現慢盤事件，其中，所述慢盤事件判斷門限為各硬盤的IO響應時間從高到低排列的前m個IO響應時間的平均值；

在所述檢測周期結束時，獲得各硬盤出現慢盤事件的次數，確定所述次數超過預設門限的硬盤為慢盤。

本發明實施例提供一種慢盤檢測裝置，包括：

檢測模塊，用于在檢測周期內，對存儲陣列中各硬盤是否為慢盤進行至少兩次慢盤事件檢測，所述檢測包括：獲取存儲陣列中各硬盤的輸入輸出IO響應時間，將各硬盤的IO響應時間與慢盤事件判斷門限進行比較，確定各硬盤中IO響應時間超過所述慢盤事件判斷門限的硬盤出現慢盤事件；

判斷門限獲得模塊，用于每次檢測過程中，將各硬盤的IO響應時間從高到低排列的前m個IO響應時間的平均值作為慢盤事件判斷門限；

確定模塊，用于在所述檢測周期結束時，從所述檢測模塊獲得各硬盤出現慢盤事件的次數，確定所述次數超過預設門限的硬盤為慢盤。

本發明實施例提供一種慢盤檢測方法和裝置，通過將存儲陣列中各硬盤的IO響應時間從高到低排列的前m個IO響應時間的平均值作為慢盤事件判斷門限，解決現有技術中存儲陣列各硬盤工作負荷差異較大，使用將存儲陣列中全部硬盤的IO響應時間的平均值作為慢盤事件判斷門限時，慢盤誤判率較高的問題，降低慢盤誤判率。

附圖說明

為了更清楚地說明本發明實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作一簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖是本發明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動性的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。

圖1為本發明慢盤檢測方法實施例一的流程圖；

圖2為本發明慢盤檢測方法實施例二的流程圖；

圖3為本發明慢盤檢測方法實施例三的流程圖；

圖4為本發明慢盤檢測裝置實施例一的結構示意圖；

圖5為本發明慢盤檢測裝置實施例二的結構示意圖；

圖6為本發明慢盤檢測裝置實施例四的結構示意圖。

具體實施方式

為使本發明實施例的目的、技術方案和優點更加清楚，下面將結合本發明實施例中的附圖，對本發明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例是本發明一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本發明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有作出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發明保護的范圍。

圖1為本發明慢盤檢測方法實施例一的流程圖，如圖1所示，本實施例的方法可以包括：

步驟101、在檢測周期內，對存儲陣列中各硬盤是否為慢盤進行至少兩次慢盤事件檢測，所述檢測包括：獲取存儲陣列中各硬盤的IO響應時間，將各硬盤的IO響應時間與慢盤事件判斷門限進行比較，確定各硬盤中IO響應時間超過所述慢盤事件判斷門限的硬盤出現慢盤事件，其中，所述慢盤事件判斷門限為各硬盤的IO響應時間從高到低排列的前m個IO響應時間的平均值；

其中，m小于等于存儲陣列中硬盤的總數；