[發(fā)明專利]一種光譜成像儀光譜分辨率檢測方法及裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410078836.3 | 申請日： | 2014-03-05 |
| 公開（公告）號： | CN103822713A | 公開（公告）日： | 2014-05-28 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 王建威;呂群波;裴琳琳;劉揚陽;張丹丹;錢路路;馬原 | 申請（專利權(quán)）人： | 中國科學院光電研究院 |
| 主分類號： | G01J3/28 | 分類號： | G01J3/28 |
| 代理公司： | 北京凱特來知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11260 | 代理人： | 鄭立明;趙鎮(zhèn)勇 |
| 地址： | 100080 *** | 國省代碼： | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 光譜 成像 分辨率 檢測 方法 裝置 | ||
1.一種光譜成像儀光譜分辨率檢測方法，其特征在于，包括：
將兩束波長不同、帶寬相同的單色光耦合后輸入所述光譜成像儀；
調(diào)整所述兩束單色光的中心波長間隔以及半高寬，并獲取所述光譜成像儀的輸出信號，對所述輸出信號擬合處理得到信號的極大值和極小值，當所述極大值和所述極小值滿足瑞利判據(jù)時，確定當前所述兩束單色光的中心波長間隔Δλ以及半高寬dλ；
根據(jù)得到理想單色光的最小分辨的波長間隔Δλ0。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光譜成像儀光譜分辨率檢測方法，其特征在于，所述方法還包括：
通過兩個單色光發(fā)生裝置生成兩束波長不同、帶寬相同的單色光，且通過所述兩個單色光發(fā)生裝置調(diào)整所述兩束單色光的中心波長間隔以及半高寬；
所述單色光發(fā)生裝置包括可調(diào)諧激光器或者單色儀。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的光譜成像儀光譜分辨率檢測方法，其特征在于，所述對所述輸出信號擬合處理，包括：
對所述輸出信號進行雙高斯擬合。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的光譜成像儀光譜分辨率檢測方法，其特征在于，滿足瑞利判據(jù)為所述極大值與所述極小值的比值為0.735。
5.一種光譜成像儀光譜分辨率檢測裝置，其特征在于，包括兩個單色光發(fā)生裝置、光耦合裝置、光譜成像儀以及處理裝置：
所述兩個單色光發(fā)生裝置分別生成兩束波長不同、帶寬相同的單色光，并輸入所述光耦合裝置；
所述光耦合裝置將兩束波長不同、帶寬相同的單色光耦合后輸入所述光譜成像儀；
調(diào)整所述兩束單色光的中心波長間隔以及半高寬，所述處理裝置獲取所述光譜成像儀的輸出信號，對所述輸出信號擬合處理得到信號的極大值和極小值，當所述極大值和所述極小值滿足瑞利判據(jù)時，確定當前所述兩束單色光的中心波長間隔Δλ以及半高寬dλ，所述處理裝置根據(jù)得到理想單色光的最小分辨的波長間隔Δλ0。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的光譜成像儀光譜分辨率檢測裝置，其特征在于，所述單色光發(fā)生裝置包括可調(diào)諧激光器或者單色儀。
7.根據(jù)權(quán)利要求6或7所述的光譜成像儀光譜分辨率檢測裝置，其特征在于，所述處理裝置還用于對所述輸出信號進行雙高斯擬合。
8.根據(jù)權(quán)利要求6或7所述的光譜成像儀光譜分辨率檢測裝置，其特征在于，所述處理裝置還用于確定所述極大值與所述極小值的比值為0.735時滿足瑞利判據(jù)。
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