[發(fā)明專利]利用石墨烯帶電在石墨烯上生長(zhǎng)高K介質(zhì)的方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201410078090.6 | 申請(qǐng)日: | 2014-03-05 |
| 公開(公告)號(hào): | CN103915328B | 公開(公告)日: | 2017-01-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 周鵬;沈彥;魏紅強(qiáng);沈于蘭;楊松波 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 復(fù)旦大學(xué) |
| 主分類號(hào): | H01L21/285 | 分類號(hào): | H01L21/285;C23C16/455 |
| 代理公司: | 上海正旦專利代理有限公司31200 | 代理人: | 陸飛,盛志范 |
| 地址: | 200433 *** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 利用 石墨 帶電 生長(zhǎng) 介質(zhì) 方法 | ||
1.?然后采用原子層沉積方法在石墨烯上形成高K介質(zhì)薄膜,具體步驟為:
提供需要生長(zhǎng)高K介質(zhì)的石墨烯樣品;
把石墨烯樣品放入電場(chǎng)中,通過電荷感應(yīng)使石墨烯帶電;或者在石墨烯上通電,使石墨烯帶電;
然后在石墨烯樣品上通入水蒸氣,由于石墨烯帶電形成極化陷阱,能物理吸附水分子;
利用原子層沉積方法在樣品樣品上生長(zhǎng)高K介質(zhì)薄膜。
2.?根據(jù)權(quán)利要求1所述的生長(zhǎng)高K介質(zhì)的方法,其特征在于所述石墨烯樣品生長(zhǎng)或者轉(zhuǎn)移在具有一定厚度的絕緣襯底上。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





