[發明專利]一種復雜介質條件下自發射γ射線的自吸收校正方法

有效

• 申請號: 201410077524.0
• 申請日: 2014-03-05
• 公開（公告）號: CN103901460A
• 公開（公告）日: 2014-07-02
• 發明（設計）人: 甘霖;何麗霞;隋洪志;陳立軍
• 申請（專利權）人: 中國原子能科學研究院
• 主分類號: G01T1/00
• 分類號: G01T1/00;G01T1/167
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種復雜介質條件下自發射γ射線的自吸收校正方法，其特征在于，其包括以下步驟：

步驟a1,在無自吸收條件下，測量不同能量γ射線的探測效率及各能量參數；

步驟a2,將測量得到所述各能量參數的計數率換算成活度，作為初始活度值;

步驟a3,以每條特征γ射線得到的初始活度與分支比最大的γ射線對應的初始活度相比，得到該待測條件下的一組比值S_mi(T_m,E_i)；

步驟a4,利用所述比值S_mi(T_m,E_i)，得到所述每條特征γ射線的自吸收因子；

步驟a5,根據所述每條特征γ射線的自吸收因子得出所述每條特征γ射線對應的放射性同位素活度f_im;

步驟a6,將所述放射性同位素活度f_im換算成放射性同位素的質量。

2.根據權利要求1所述的一種復雜介質條件下自發射γ射線的自吸收校正方法，其特征在于，所述步驟a1中，在無自吸收條件下，測量不同能量γ射線的探測效率計算公式為：

ϵi=CiA·Bi·t·w·Gij·Ω]]>

式中，ε_i為測量系統對特定能量γ射線的探測效率；C_i為測量系統測到某條γ射線的總計數；A為被測對象的比活度，單位取Bq·g^-1；B_i為特定能量γ射線的分支比，用百分比表示；t為測量時間，單位取s；w為被測對象的質量，單位取g；G_ij為被測對象中某γ射線的自吸收因子，無自吸收時，G_ij=1；Ω為測量幾何條件，含立體角；j=1,...,n;代表不同質量厚度；i=1,...,L，代表不同能量。