[發明專利]存取快閃存儲器中儲存單元的方法以及使用該方法的裝置

有效

• 申請號: 201410074378.6
• 申請日: 2014-03-03
• 公開（公告）號: CN104658612B
• 公開（公告）日: 2019-07-23
• 發明（設計）人: 黃漢城
• 申請（專利權）人: 慧榮科技股份有限公司
• 主分類號: G11C29/56
• 分類號: G11C29/56
• 代理公司: 上海專利商標事務所有限公司 31100
• 代理人: 徐潔晶

本發明提出一種存取快閃存儲器中儲存單元的方法以及使用該方法的裝置，該方法由控制單元執行，包含下列步驟。當測試出儲存單元中的一行的一塊中的每一壞列時，新增一筆記錄至壞列數據表中。當測試出上述儲存單元中的上述行的上述塊中的最后一列是好列時，更判斷壞列數據表中是否包含奇數個記錄。當判斷壞列數據表中包含奇數個記錄時，新增一筆記錄至壞列數據表中，用以表示最后一列是壞列。

技術領域

本發明關連于一種快閃存儲器裝置，特別是一種存取快閃存儲器中儲存單元的方法以及使用該方法的裝置。

背景技術

快閃存儲器(flash memory)于生產過程中，會因為粉塵或是光罩問題，使得快閃儲存單元中的一整列(column)的數據都無法正確存取。傳統上，可以利用錯誤檢查碼(error correction code,ECC)來修正儲存于無法存取列的數據。但是，一旦無法存取的數據列數目太多，則無法利用錯誤檢查碼進行修正，使得整個快閃存儲器失效。因此，本發明提出一種存取快閃儲存單元的方法以及使用該方法的裝置，防止快閃存儲器因為存在過多無法存取的數據列而失效。

發明內容

本發明的實施例提出一種存取快閃存儲器中儲存單元的方法，由控制單元執行，包含下列步驟。當測試出儲存單元中的一行的一塊中的每一壞列時，新增一筆記錄至壞列數據表中。當測試出上述儲存單元中的上述行的上述塊中的最后一列是好列時，更判斷壞列數據表中是否包含奇數個記錄。當判斷壞列數據表中包含奇數個記錄時，新增一筆記錄至壞列數據表中，用以表示最后一列是壞列。

本發明的實施例另提出一種存取快閃存儲器中的儲存單元的裝置，包含壞列數據表；以及控制單元。當控制單元測試出儲存單元中的一行的一塊中的每一壞列時，新增一筆記錄至壞列數據表中。當測試出儲存單元中的上述行的上述塊中的最后一列是好列時，更判斷壞列數據表中是否包含奇數個記錄。當判斷壞列數據表中包含奇數個記錄時，新增一筆記錄至壞列數據表中，用以表示上述最后一列是壞列。

本發明的實施例更另提出一種存取快閃存儲器中儲存單元的方法，由控制單元執行，包含下列步驟。針對儲存單元中的一行的每一塊，檢測壞列數目，并且根據檢測結果產生壞列數據表。所產生的壞列數據表包含偶數筆記錄，且其中關連于塊的記錄筆數等于實際檢測到的壞列數目，或等于實際檢測到的壞列數目加一。

附圖說明

圖1是依據本發明實施例的快閃存儲器中的儲存單元示意圖。

圖2是依據本發明實施例的單行存儲器單元示意圖。

圖3是依據本發明實施例的快閃存儲器的系統架構示意圖。

圖4是依據本發明實施例的儲存單元存取介面的時序圖。

圖5是依據本發明實施例的壞列測試方法的方法流程圖。

圖6A是依據本發明實施例的壞列測試的第一實例示意圖。

圖6B是依據本發明實施例的壞列測試的第二實例示意圖。

圖7及圖8是依據本發明實施例的壞列測試后的單行存儲器單元示意圖。

【附圖標記說明】

10 儲存單元；

110 存儲器單元陣列；

120 行解碼單元；

130 列編碼單元；

140 地址單元；

150 數據緩沖器；

200 存儲器單元陣列中的一行；

210 數據列；

220 備用列；

30 快閃存儲器的系統架構；