[發明專利]平面檢測機的各個檢測器之間的高度差的確定方法

有效

• 申請號: 201410074102.8
• 申請日: 2014-03-03
• 公開（公告）號: CN103884311B
• 公開（公告）日: 2017-03-22
• 發明（設計）人: 楊揚
• 申請（專利權）人: 廣東賽因迪科技股份有限公司
• 主分類號: G01B21/30
• 分類號: G01B21/30
• 代理公司: 佛山市永裕信專利代理有限公司44206
• 代理人: 楊啟成

技術領域：?

本發明涉及一種平面檢測校正方法。

背景技術：

目前陶瓷廠的拋光磚生產線都需要進行瓷磚平整度檢測，平面檢測機應運而生，用以代替人工進行平整度檢測。平面檢測機使用激光位移檢測器進行瓷磚平整度檢測，一臺機器上安裝3到7個檢測器。由于測量需要，所有的檢測器必須保證在同一水平面，但是安裝時是很難做到的，這樣就需要校正各個檢測器之間的高度差。

市面上的平面檢測機大部分均使用校正條進行機器自身校正。使用校正條是把一塊長條金屬塊放在檢測器下面，理論上校正條是很光滑很平的，把校正條當成水平面，比較各個檢測器的數值，這樣就可以計算出各個檢測器的高度差。但是校正條是金屬制品，容易受潮、生銹、熱脹冷縮、被氧化，造成校正不準確，從而嚴重影響了平面檢測機檢測瓷磚平整度的數據準確性。

發明內容：

本發明的發明目的在于提供一種無需要特殊工具且快捷方便地就能實現校正準確的平面檢測機的各個檢測器之間的高度差的確定方法。

本發明是這樣實現的，采用間距相同的n=3—7個檢測高度的檢測器，然后再瓷磚上劃定n×n個點，然后瓷磚水平經過檢測器，使n個縱向的n個點組在相應的檢測器的正下方經過相應的檢測器，這樣，每個檢測器檢測出縱向n個點的高度數值組m，然后90度旋轉瓷磚，并使瓷磚水平經過檢測器，使n個縱向的n個點組在相應的檢測器的正下方經過相應的檢測器，這樣，每個檢測器檢測出縱向n個點的高度數值組m’，比較不同的檢測器對同一個點的檢測數據，就能得出不同的檢測器間的高度差。

本發明與已有技術相比，具有無需要特殊工具且快捷方便地就能實現校正準確的優點。

附圖說明：

圖1為本發明工藝流程圖；

圖2為兩次檢測得出的與相應的點對應的兩組數據的比較。

具體實施方式：

現結合附圖和實施例對本發明做進一步詳細描述：

如圖所示，本發明采用間距相同的n=3—7（實施例采用5個）個檢測高度的檢測器1，然后再瓷磚2上劃定n×n個點（<A1、A2、A3、A4、A5>；<B1、B2、B3、B4、B5>；<C1、C2、C3、C4、C5>；<D1、D2、D3、D4、D5>；<E1、E2、E3、E4、E5>），然后瓷磚水平經過檢測器，使n個縱向的n個點組在相應的檢測器的正下方經過相應的檢測器，這樣，每個檢測器檢測出縱向n個點的高度數值組m（<m11、m12、m13、m14、m15>；<m21、m22、m23、m24、m25>；<m31、m32、m33、m34、m35>；<m41、m42、m43、m44、m45>；<m51、m52、m53、m54、m55>），然后水平逆時針90度旋轉瓷磚，并使瓷磚水平經過檢測器，使n個縱向的n個點組在相應的檢測器的正下方經過相應的檢測器，這樣，每個檢測器檢測出縱向n個點的高度數值組m’?（<m^’11、m^’12、m^’13、m^’14、m^’15>；<m^’21、m^’22、m^’23、m^’24、m^’25>；<m^’31、m^’32、m^’33、m^’34、m^’35>；<m^’41、m^’42、m^’43、m^’44、m^’45>；<m^’51、m^’52、m^’53、m^’54、m^’55>），比較不同的檢測器對同一個點的檢測數據，就能得出不同的檢測器間的高度差。