[發(fā)明專利]基于熱縮原理的殘余應(yīng)力梯度試塊設(shè)計(jì)方法無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201410073989.9 | 申請(qǐng)日: | 2014-02-28 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN103837386A | 公開(kāi)(公告)日: | 2014-06-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 徐春廣;白曉光;宋文濤;李驍;潘勤學(xué);靳鑫;李煥新;劉帥 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 北京理工大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01N1/28 | 分類號(hào): | G01N1/28 |
| 代理公司: | 暫無(wú)信息 | 代理人: | 暫無(wú)信息 |
| 地址: | 100081 *** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 原理 殘余 應(yīng)力 梯度 設(shè)計(jì) 方法 | ||
一、技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明提出的是一種標(biāo)定試塊的設(shè)計(jì)方法,具體地說(shuō),是基于熱縮原理的殘余應(yīng)力梯度測(cè)量標(biāo)定試塊的設(shè)計(jì)方法。該方法可用于小孔法、超聲法、電磁法和射線法等有損或無(wú)損殘余應(yīng)力檢測(cè)方法的實(shí)驗(yàn)室和現(xiàn)場(chǎng)校準(zhǔn),屬于材料分析測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域。
二、背景技術(shù)
殘余應(yīng)力測(cè)量方法主要有機(jī)械法與物理法。其中,機(jī)械法會(huì)對(duì)結(jié)構(gòu)造成損害,不適宜非破壞性結(jié)構(gòu)的應(yīng)力檢測(cè);物理法主要包括X射線衍射法、磁性法、中子衍射法及超聲法等,其中超聲法主要是基于超聲臨界折射縱波原理實(shí)現(xiàn)殘余應(yīng)力檢測(cè)。為了確保這些方法的檢測(cè)值準(zhǔn)確(精度始終維持在其誤差范圍之內(nèi)),實(shí)現(xiàn)溯源性,需要用一個(gè)可參考的標(biāo)準(zhǔn),對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行定期的校準(zhǔn)。
目前殘余應(yīng)力標(biāo)準(zhǔn)定值試塊的研究,主要是針對(duì)X射線衍射法。文獻(xiàn)檢索發(fā)現(xiàn),專利:(姜傳海,洪波.X射線應(yīng)力測(cè)量標(biāo)定試樣的制備方法[P].申請(qǐng)?zhí)?200510023292.1,2005.)中提到一種用于材料分析測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域的X射線應(yīng)力測(cè)量標(biāo)定試樣的制備方法。另外,專利:(袁新艷,王海玲,李炎琢.X射線殘余應(yīng)力測(cè)試系統(tǒng)校準(zhǔn)試塊制作方法[P].申請(qǐng)?zhí)?201210183436.X,2012.)同樣公開(kāi)了一種通過(guò)顆粒選取、粘合劑制作、顯微鏡載玻片上撒鐵粉、粘合劑粘接等工藝得到X射線殘余應(yīng)力測(cè)試系統(tǒng)校準(zhǔn)試塊。但是,這些試塊的結(jié)構(gòu)較為特殊,不具有通用性,且制造方法復(fù)雜,不易實(shí)現(xiàn)。為此,本發(fā)明提供了一種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、準(zhǔn)確可靠的殘余應(yīng)力梯度校準(zhǔn)試塊來(lái)解決現(xiàn)有方法的不足之處。
三、發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供了一種基于熱縮原理的殘余應(yīng)力梯度試塊設(shè)計(jì)方法,可以用于超聲波法、小孔法、電磁法和射線法等殘余應(yīng)力檢測(cè)方法的實(shí)驗(yàn)室和現(xiàn)場(chǎng)校準(zhǔn)。
本發(fā)明的目的是這樣實(shí)現(xiàn)的,針對(duì)被檢測(cè)材料,制備同心嵌套結(jié)構(gòu)的熱壓縮定值試塊,包含圓盤A及圓環(huán)B。圓盤A直徑為φDA,厚度為t;圓環(huán)B內(nèi)徑φDB,外徑φD′B,厚度為t。DA、DB與D′B的尺寸應(yīng)滿足約束:DA≤D′B≤DA×π×(1+αA),DA≥DB-D′B,其中,αA為目標(biāo)試塊材料的線膨脹系數(shù)。通過(guò)熱縮原理,制備出殘余應(yīng)力梯度試塊,其應(yīng)力大小可通過(guò)理論計(jì)算得出,將理論值與殘余應(yīng)力檢測(cè)儀器的檢測(cè)值對(duì)比,即可達(dá)到校準(zhǔn)儀器的目的。
四、附圖說(shuō)明
圖1殘余應(yīng)力梯度試塊結(jié)構(gòu)示意圖
圖2殘余應(yīng)力梯度試塊設(shè)計(jì)圖
圖3圓盤壓應(yīng)力值計(jì)算示意圖
圖4超聲法檢測(cè)殘余應(yīng)力梯度熱縮試塊內(nèi)圓盤的一條徑向應(yīng)力分布曲線
圖5超聲法檢測(cè)殘余應(yīng)力梯度熱縮試塊內(nèi)圓盤部分的應(yīng)力分布云圖
五、具體實(shí)施方式
下面對(duì)本發(fā)明的具體實(shí)施方式進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明:
如圖1所示,針對(duì)被檢測(cè)材料(例如,被測(cè)材料為45#鋼,則圓盤A與圓環(huán)B的制備材料即為45#鋼),制備同心嵌套結(jié)構(gòu)的殘余應(yīng)力梯度試塊,包含圓盤A及圓環(huán)B。
如圖2所示,圓盤A直徑φDA,厚度t;圓環(huán)B內(nèi)徑φDB,外徑φD′B,厚度為t,單位均為毫米。其中DA、DB與D′B的尺寸滿足如下約束:
DA≤D′B≤DA×π×(1+αA)?????(1)
DA≥DB-D′B?????(2)
其中:αA為目標(biāo)試塊材料的線膨脹系數(shù),(mm/k)。
如圖3所示,由于殘余應(yīng)力梯度試塊圓環(huán)B外圈幾何形狀不受限制,冷卻至室溫后,其拉應(yīng)力得到部分釋放,故梯度試塊應(yīng)力檢測(cè)應(yīng)以圓盤A受壓縮為主計(jì)算。其徑向應(yīng)力大小σ可通過(guò)以下公式進(jìn)行計(jì)算:
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