[發明專利]一種弱目標探測紅外相機關鍵表面涂層發射率確定方法

有效

• 申請號: 201410073596.8
• 申請日: 2014-02-28
• 公開（公告）號: CN103868921A
• 公開（公告）日: 2014-06-18
• 發明（設計）人: 阮寧娟;蘇云;郭崇玲;吳立民;趙海博;胡斌;鄭國憲;肖思
• 申請（專利權）人: 北京空間機電研究所
• 主分類號: G01N21/84
• 分類號: G01N21/84
• 代理公司: 中國航天科技專利中心 11009
• 代理人: 安麗

1.一種弱目標探測紅外相機關鍵表面涂層發射率確定方法，其特征在于實現步驟如下：

（1）找出針對內部雜散光和外部雜散光相同的關鍵表面；所述的內部雜散光指的是弱目標探測紅外相機系統自身在內部產生的熱輻射、雜散光源，這部分雜散光是由相機自身的溫度、發生熱輻射元件的表面發射率和面積因素決定的；所述的外部雜散光指的是弱目標探測紅外相機物空間視場以外的雜散光；通過對內部雜散光和外部雜散光的分析，分別找出與內、外部雜散光相關的所有關鍵表面，找出針對內部雜散光和外部雜散光兩者相同的關鍵表面；所述的關鍵表面可能包括1個或者多于1個，若為1個關鍵表面，則進行下述步驟（2）一次；若為多于1個，則根據關鍵表面的個數分別重復進行下述步驟（2）；

（2）將步驟（1）中所述關鍵表面設置不同的表面發射率值，發射率的上限和下限均取決于目前的工程實際，設置9個發射率由0.1～0.9，間隔為0.1，重新進行弱目標探測紅外相機的內部雜散光和外部雜散光的分析，分別找出內部雜散光和外部雜散光隨發射率變化而變化的趨勢；

（3）若步驟（2）中所述的內部雜散光和外部雜散光隨發射率變化而變化的趨勢相同，則取反射率的最大值0.9；若步驟（2）中的內部雜散光和外部雜散光隨發射率變化而變化的趨勢不同，則分別計算不同發射率下內部雜散光和外部雜散光的權重值，將不同發射率下內部雜散光和外部雜散光的權重值加和，找出權重值加和最小時所對應的發射率值，該發射率值即為關鍵表面的發射率取值，此時即完成了弱目標探測紅外相機雜散光的綜合抑制。