[發(fā)明專利]一種電子斷層圖像序列對(duì)位方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201410073170.2
• 申請(qǐng)日: 2014-02-28
• 公開（公告）號(hào): CN103824294A
• 公開（公告）日: 2014-05-28
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 韓仁敏;張法;儲(chǔ)琪
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中國(guó)科學(xué)院計(jì)算技術(shù)研究所
• 主分類號(hào): G06T7/00
• 分類號(hào): G06T7/00
• 代理公司: 北京泛華偉業(yè)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11280
• 代理人: 王勇

1.一種電子斷層圖像序列對(duì)位方法，包括下列步驟：

1）從每幅電子斷層投影圖像中提取特征點(diǎn)，所述特征點(diǎn)能夠保留圖像仿射變換信息；

2）對(duì)不同電子斷層投影圖像的特征點(diǎn)進(jìn)行匹配，獲得多幅電子斷層投影圖像的特征點(diǎn)之間的對(duì)應(yīng)關(guān)系；所述對(duì)應(yīng)關(guān)系是對(duì)應(yīng)于同一實(shí)際樣品特征區(qū)塊的不同角度電子斷層投影圖像中的特征點(diǎn)之間的關(guān)聯(lián)關(guān)系；

3）基于仿射模型，根據(jù)步驟2）所獲得的多幅電子斷層投影圖像的特征點(diǎn)之間的對(duì)應(yīng)關(guān)系，估計(jì)各電子斷層投影圖像所對(duì)應(yīng)的對(duì)位參數(shù)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子斷層圖像序列對(duì)位方法，其特征在于，所述步驟1）中，采用SIFT算子或者SURF算法從每幅電子斷層投影圖像中提取特征點(diǎn)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子斷層圖像序列對(duì)位方法，其特征在于，所述步驟2）包括下列子步驟：

21）采用局部搜索法，對(duì)每幅電子斷層投影圖像，將其與其它電子斷層投影圖像進(jìn)行兩幅電子斷層投影圖像之間的特征點(diǎn)匹配；

22）將步驟21）中所匹配的特征點(diǎn)匹配對(duì)串聯(lián)，得到對(duì)應(yīng)于被投影樣品相同特征區(qū)塊的各個(gè)不同角度的電子斷層投影圖像的特征點(diǎn)組成的特征鏈。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的電子斷層圖像序列對(duì)位方法，其特征在于，所述步驟21）中，采用隨機(jī)抽樣一致原則，基于二極幾何去除錯(cuò)誤匹配對(duì)。

5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的電子斷層圖像序列對(duì)位方法，其特征在于，所述步驟21）中，每幅所述電子斷層投影圖像僅與鄰近的電子斷層投影圖像進(jìn)行特征點(diǎn)匹配。

6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的電子斷層圖像序列對(duì)位方法，其特征在于，所述步驟3）中，各電子斷層投影圖像所對(duì)應(yīng)的對(duì)位參數(shù)包括：每幅電子斷層投影圖像所對(duì)應(yīng)的相機(jī)空間旋轉(zhuǎn)參數(shù)、每幅電子斷層投影圖像所對(duì)應(yīng)的樣品在空間中的偏移參數(shù)以及各特征點(diǎn)所對(duì)應(yīng)的樣品原始特征點(diǎn)空間坐標(biāo)。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的電子斷層圖像序列對(duì)位方法，其特征在于，所述步驟3）中，首先選取電子斷層投影圖像序列中的部分圖像，根據(jù)已知的電子斷層投影圖像的特征點(diǎn)之間的對(duì)應(yīng)關(guān)系，基于誤差最小原則對(duì)當(dāng)前所選取的圖像的所述對(duì)位參數(shù)進(jìn)行估計(jì)；然后再加入新的圖像，根據(jù)前一步所估計(jì)的所述對(duì)位參數(shù)以及已知的電子斷層投影圖像的特征點(diǎn)之間的對(duì)應(yīng)關(guān)系，基于誤差最小原則對(duì)加入新的圖像后的當(dāng)前所選取的圖像的所述對(duì)位參數(shù)進(jìn)行估計(jì)和更新；不斷重復(fù)直至所有圖像均被加入且獲得所有圖像的所述對(duì)位參數(shù)。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的電子斷層圖像序列對(duì)位方法，其特征在于，所述步驟3）中采用稀疏捆綁調(diào)整技術(shù)估計(jì)所述對(duì)位參數(shù)。