[發(fā)明專利]一種測(cè)量物體間偏差的方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201410070827.X
• 申請(qǐng)日: 2014-02-28
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN104880148B
• 公開(kāi)（公告）日: 2018-01-16
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李寧;張新華;于華林;劉思源
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 同方威視技術(shù)股份有限公司
• 主分類號(hào): G01B11/00
• 分類號(hào): G01B11/00;G01B11/02
• 代理公司: 中國(guó)專利代理(香港)有限公司72001
• 代理人: 閆小龍,王忠忠

1.一種測(cè)量物體間偏差的方法，其特征在于，具有如下步驟：

（a）利用在X軸上排列多個(gè)單位探測(cè)器而成的探測(cè)器陣列測(cè)量來(lái)自光源的光束的光強(qiáng)分布曲線；

（b）根據(jù)在步驟（a）中得到的光強(qiáng)分布曲線，得到所述光強(qiáng)分布曲線與X軸所包圍的封閉曲線在所選取的參考點(diǎn)即X軸0點(diǎn)的兩側(cè)的光通量之差，由此，確定光束中心與所述探測(cè)器陣列的所述參考點(diǎn)之間的偏差。

2.如權(quán)利要求1所述的測(cè)量物體間偏差的方法，其特征在于，

在所述步驟（b）中，在所述探測(cè)器陣列的單位探測(cè)器數(shù)量為M并且選擇第N號(hào)單位探測(cè)器與第N+1號(hào)單位探測(cè)器的沿X軸方向上的連線的中心線與X軸的交點(diǎn)作為所述參考點(diǎn)的情況下，

所述參考點(diǎn)的一側(cè)的光通量為，所述參考點(diǎn)的另一側(cè)的光通量為，

其中，X為單位探測(cè)器沿X軸方向的厚度；H為單位探測(cè)器的寬度；為第k號(hào)單位探測(cè)器在X*H面積內(nèi)探測(cè)到的光的強(qiáng)度，

在設(shè)h為第N+1號(hào)單位探測(cè)器探測(cè)到的光強(qiáng)并且d為光束中心與所述探測(cè)器陣列的所述參考點(diǎn)之間的偏差時(shí)，d由如下公式得到，

。