[發明專利]溫度控制系統在審
| 申請號: | 201410070247.0 | 申請日: | 2014-02-28 |
| 公開(公告)號: | CN104881064A | 公開(公告)日: | 2015-09-02 |
| 發明(設計)人: | 李義亮;吳舒琪;劉玉林 | 申請(專利權)人: | 鴻富錦精密工業(武漢)有限公司;鴻海精密工業股份有限公司 |
| 主分類號: | G05D23/30 | 分類號: | G05D23/30 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 430205 湖北省武漢市東*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 溫度 控制系統 | ||
技術領域
本發明涉及一種溫度控制系統,特別涉及一種溫度控制精確的溫度控制系統。
背景技術
傳統的溫度控制系統通常采用發熱電阻對電子設備的工作環境進行加熱,進而模擬一高溫工作環境對電子設備進行測試。傳統的溫度控制系統需要測試人員手動的控制加熱裝置對一溫控箱進行加熱,進而控制電子設備的測試溫度。傳統的溫度控制系統中溫控箱內的溫度上升速度慢且溫度控制不精確。
發明內容
鑒于以上內容,有必要提供一種可精確控制測試溫度的溫度控制系統。
一種溫度控制系統,用以對一測試箱內的溫度進行控制,包括一控制電路、一升溫電路及一降溫電路,所述控制電路內可預設一溫度預設值,所述控制電路感應所述測試箱內的溫度,并在所述測試箱內的溫度低于所述溫度預設值時發出一第一供電控制信號,所述升溫電路接收所述第一供電控制信號,并根據所述第一供電控制信號對所述測試箱內進行加熱,當所述測試箱內的溫度加熱至高于所述溫度預設值時,所述控制電路發出一第二供電控制信號,所述降溫電路接收所述第二供電控制信號,并根據所述第二供電控制信號對所述測試箱內進行降溫。
與現有技術相比,在上述溫度控制系統中,所述控制電路感應所述測試箱內的溫度,并在所述測試箱內的溫度低于所述溫度預設值時發出一第一供電控制信號,所述升溫電路接收所述第一供電控制信號,并根據所述第一供電控制信號對所述測試箱內進行加熱,當所述測試箱內的溫度加熱至高于所述溫度預設值時,所述控制電路發出一第二供電控制信號,所述降溫電路接收所述第二供電控制信號,并根據所述第二供電控制信號對所述測試箱內進行降溫,溫度上升快速且溫度控制精確度高。
附圖說明
圖1是本發明溫度控制系統的一較佳實施方式的一框圖。
圖2是圖1中溫度控制系統的一較佳實施方式的一電路圖。
主要元件符號說明
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于鴻富錦精密工業(武漢)有限公司;鴻海精密工業股份有限公司,未經鴻富錦精密工業(武漢)有限公司;鴻海精密工業股份有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201410070247.0/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





