[發明專利]基于掃頻OCT技術的腫瘤邊界術中探查儀有效
| 申請號: | 201410068048.6 | 申請日: | 2014-02-26 |
| 公開(公告)號: | CN103784120A | 公開(公告)日: | 2014-05-14 |
| 發明(設計)人: | 楊亞良;張雨東;王成 | 申請(專利權)人: | 中國科學院光電技術研究所 |
| 主分類號: | A61B5/00 | 分類號: | A61B5/00 |
| 代理公司: | 北京科迪生專利代理有限責任公司 11251 | 代理人: | 孟卜娟 |
| 地址: | 610209 *** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 基于 oct 技術 腫瘤 邊界 探查 | ||
1.基于掃頻OCT技術的腫瘤邊界術中探查儀,其特征在于:包括掃頻光源(1)、第一光纖耦合器(2)、第一聲光移頻器(3)、偏振控制器(4)、第一透鏡(5)、平移臺(6)、第二聲光移頻器(7)、第二透鏡(8)、第二光纖耦合器(9)、光環形器(10)、第三光纖耦合器(11)、第三透鏡(12)、二維MEMS掃描器(13)、第四透鏡(14)、線性微馬達(15)、內護套(16)、透明外護套(17)、波分復用器(19)、對準光源(20)、平衡探測器(21)、第一單模光纖(22)、第二單模光纖(23)、第三單模光纖(24)、第四單模光纖(25)、第五單模光纖(26)、第六單模光纖(27)、第七單模光纖(28)、第八單模光纖(29)、第九單模光纖(30)、第十單模光纖(31)、第十二單模光纖(32)、第十二單模光纖(33)、函數發生卡(34)、數據采集卡(35)和計算機(36);
掃頻光源(1)發出的光束由第一單模光纖(22)傳輸至第一光纖耦合器(2)后分成兩路,一路由第二單模光纖(23)傳輸至第一聲光移頻器(3)再由第三單模光纖(24)傳輸至第二光纖耦合器(9),偏振控制器(4)安裝在第三單模光纖(24)上,這一路傳輸的光信號被定義為第一參考光信號;另一路由第四單模光纖(25)傳輸,然后被第一透鏡(5)準直后入射第二聲光移頻器(7),由第二聲光移頻器(7)輸出的光束被第二透鏡(8)耦合進第五單模光纖(26)中,并傳輸至第二光纖耦合器(9),第一透鏡(5)固定在平移臺(6)上,這一路傳輸的光信號被定義為第二參考光信號;
傳輸至第二光纖耦合器(9)的第一參考光信號和第二參考光信號由第六單模光纖(27)傳輸至光環形器(10)的端口a,再由光環形器(10)的端口b出射,然后經第七單模光纖(28)和第三光纖耦合器(11)后,傳輸至第八單模光纖(29)的端面d,在這里光束被分成后向反射和前向透射兩部分,后向反射光返回至第三光纖耦合器(11),把第二參考光信號中的后向反射光信號用作干涉成像的參考光;前向透射光依次經第三透鏡(12)準直、二維MEMS掃描器(13)后,被第四透鏡(14)聚焦在樣品(18)上,然后被樣品(18)后向散射或反射并沿原路返回至第三光纖耦合器(11),把第一參考光信號中被樣品(18)后向散射或反射的光信號用作干涉成像的樣品光;第三透鏡(12)、二維MEMS掃描器(13)、和第四透鏡(14)安裝在內護套(16)里,內護套(16)安裝在線性微馬達(15)的輸出軸上,線性微馬達(15)再固定在透明外護套(17)里,由線性微馬達(15)帶著在內護套(16)里傳輸的光束在透明外護套(17)里進行掃描;
返回至第三光纖耦合器(11)的樣品光和參考光被分成兩路,一路由第七單模光纖(28)傳輸至光環形器(10)的端口b,再由光環形器(10)的端口c出射,然后由第九單模光纖(30)傳輸至平衡探測器(21)的正極接收端;另一路由第十單模光纖(31)傳輸至波分復用器(19),再由第十一單模光纖(32)傳輸至平衡探測器(22)的負極接收端;
對準光源(20)輸出的可見光,由第十二單模光纖(33)傳輸至波分復用器(19)后,依次經第十單模光纖(31)、第三光纖耦合器(11)、第八單模光纖(29)、第三透鏡(12)、二維MEMS掃描器(13)和第四透鏡(14)后聚焦在樣品(18)上,以同步指示掃描成像的位置;
掃頻光源(1)進行波長掃描的同時發出采樣觸發信號,去控制數據采集卡(35)同步采集由平衡探測器(21)接收到的干涉光譜信號;由函數發生卡(34)提供的掃描驅動信號與掃頻光源(1)發出的采樣觸發信號同步,分別控制線性微馬達(15)和二維MEMS掃描器(13)進行掃描;數據采集卡(35)采集到的信號傳輸至計算機(35)進行處理。
2.根據權利要求1所述的基于掃頻OCT技術的腫瘤邊界術中探查儀,其特征在于:所述的掃頻光源(1)為近紅外波段寬光譜光源。
3.根據權利要求1所述的基于掃頻OCT技術的腫瘤邊界術中探查儀,其特征在于:所述的平移臺(6)帶著第一透鏡(5)作線性移動,來調節第二參考光信號的光程,直至第一參考光信號與第二參考光信號的光程差和干涉成像的樣品光與參考光的光程差相等。
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