[發明專利]串聯質譜儀和質譜法

有效

• 申請號: 201410067755.3
• 申請日: 2014-02-26
• 公開（公告）號: CN104007163A
• 公開（公告）日: 2014-08-27
• 發明（設計）人: 奧村大輔
• 申請（專利權）人: 株式會社島津制作所
• 主分類號: G01N27/62
• 分類號: G01N27/62
• 代理公司: 上海市華誠律師事務所 31210
• 代理人: 肖華

技術領域

本發明涉及一種串聯質譜儀及其質譜法，該串聯質譜儀通過碰撞誘導解離（Collision-Induced?Dissociation，CID）或其他方法來解離具有特定的質荷比的離子，并進行通過解離所產生的產物離子（product?ion）（碎片離子）的質譜分析。

背景技術

為了識別具有較大分子量的物質并分析該物質的結構，MS/MS分析（或者串聯分析）作為質譜法中的一個方法被已知。在MS/MS分析中，在產生自樣本的多個離子當中具有特定的質荷比的離子被選擇作為先驅離子（precursor?ion）（即，第一級質量分離），通過一些方法，先驅離子被解離，這些方法包括一種使先驅離子接觸到CID氣體的方法，并且通過解離產生的各種產物離子在它們被檢測到之前根據質荷比被分離（即，第二級質量分離）。

其中碰撞室被設置在前級和后級的四極濾質器（quadrupole?mass?filter）之間的三重四極質譜儀（triple?quadrupole?mass?spectrometer）是一種能夠進行MS/MS分析的被廣泛使用的具有相對簡單的結構的質譜儀。已知質譜儀的另一種配置，在該配置中，三重四極質譜儀的后級四極濾質器被替換為具有更高質量分辨率（mass?resolution）的飛行時間質譜儀（參見專利文獻1等）。在本說明書中，執行如上所述的兩級質量分離的質譜儀被稱為串聯質譜儀。它也被稱為MS/MS質譜儀。

通常，通過CID等等的化合物的解離模式（dissociating?pattern）不是唯一的，并且相同的化合物依據CID條件顯示出不同的解離模式，CID條件諸如是在CID的時候給予離子的碰撞能量的大小、以及碰撞室中的氣壓。這是因為化合物中的各種鍵合部位能夠依據CID條件被切斷。通過MS/MS分析的質譜獲得的主要信息是作為源自于目標化合物的先驅離子的解離的結果而產生的各種碎片的質量的信息。因此，為了推定目標化合物的分子結構，如果源自于化合物的各種碎片的質量信息被獲得就更好了。

如之前所描述的，在串聯質譜儀中，能夠通過改變CID條件來改變解離模式。因此，在專利文獻1中所描述的質譜儀中，分別在其中容易發生解離的CID條件下和在其中相對少發生解離的CID條件下，對相同的樣本執行MS/MS分析，因此高度分裂的質譜和較少分裂的質譜被獲得。在這種情況下，舉例來說，與僅僅在一個CID條件下使用MS/MS質譜的情況相比，分析儀通過比較兩個質譜來獲得更多信息，并且能夠增加目標化合物的結構的推定的可靠性。

然而，在專利文獻1中所描述的質譜儀中，只能夠獲得高度分裂的質譜和較少分裂的質譜的兩種類型的信息，并且質譜儀并不總是足以分析具有復雜分子結構的化合物的結構。雖然能夠更改文獻1中所描述的質譜儀以便利用不同的CID條件來獲得三個以上MS/MS質譜，但是這會花費一些時間來對某一范圍的質荷比進行質譜分析，并且因此，在不同的CID條件下對一個化合物獲得多個MS/MS質譜所需的時間相應地變長。

特別地，當氣相色譜儀（GC）和液相色譜儀（LC）被連接至質譜儀的前級、且被色譜儀暫時分離的化合物通過質譜儀被分析時，其中一個化合物被引入質譜儀的時間寬度被顯著地限制。因此，如果用于分析一個化合物所需的時間變長，則分析將不會在其中化合物被引入質譜儀的時間段內結束。也就是說，源自于要被分析的化合物的目標離子在化合物的多個質譜被完全獲得之前將被全部消耗。

背景技術文獻

專利文獻

[專利文獻1]JP-A2002-110081

發明內容

本發明要解決的問題

已經開發了本發明來解決上述問題。本發明的主要目的是提供能夠在短時間段內收集大量產物離子信息、并且因此能夠提高化合物的結構的分析精度和未知化合物的識別精度的串聯質譜儀及其質譜法。

解決問題的手段

旨在解決上述問題的本發明提供一種串聯質譜儀，包括：離子源，所述離子源使樣本中的化合物離子化；第一質量分離單元，所述第一質量分離單元在各種產生的離子中選擇具有特定質荷比的離子作為先驅離子；離子解離單元，所述離子解離單元解離所述先驅離子；以及第二質量分離單元和檢測器，所述第二質量分離單元和所述檢測器進行通過解離被產生的各種產物離子的質譜分析，所述串聯質譜儀包括：