[發明專利]一種孔距比較測量儀

有效

• 申請號: 201410067422.0
• 申請日: 2014-02-26
• 公開（公告）號: CN103822565A
• 公開（公告）日: 2014-05-28
• 發明（設計）人: 王際祥;彭桂良;鄭裕奎
• 申請（專利權）人: 自貢市川力實業有限公司
• 主分類號: G01B5/14
• 分類號: G01B5/14
• 代理公司: 成都九鼎天元知識產權代理有限公司 51214
• 代理人: 韓雪;錢成岑

技術領域

本發明涉及孔間距離測量儀器技術領域，尤其是涉及軸心線平行的軸類零件銷孔、平面圓柱孔的孔間距離測量的一種孔距比較測量儀。

背景技術

目前在機械加工行業及制造行業，對于軸類零件的銷孔、平面圓柱孔的孔間中心距離的測量通常是采用專用孔位檢具、三坐標測量、游標卡尺測量等方法測量。其中的專用孔位檢具只能定性判別，不能讀數判別，受零件加工孔徑尺寸影響，很難準確判定工件是否合格，即可能將合格品誤判為不合格，也可能將不合格品判為合格流出。三坐標測量方法雖然能準確判定，但檢測成本高，不適合大量檢測。游標卡尺測量方法屬于間接測量，即首先分別用卡尺內測腳和外測腳測量兩孔間的最遠和最近距離，再將兩測值相加除以2，所得到的計算值即為兩孔中心距離；或者，首先用卡尺內測腳測量兩孔間的最遠距離，再將該測值減去被測兩孔實測孔徑之和的一半；或者，首先用卡尺外測腳測量兩孔間的最近距離，再將該測值加上被測兩孔實測孔徑之和的一半，所得到的計算值即為兩孔中心距離。由于游標卡尺測量方法需要反復讀數，而該讀數由于誤差不準確，且不同測量人員所測得的讀數結果不盡一樣，經常出現判定結果不一致；再加上測值為間接測量，最終測值為計算值，很不直觀，容易出現計算差錯。因此，現有的各種孔距測量檢查方法導致測量效率較低、判定結果不可靠，也不適合對零件孔距的大量全檢使用。

發明內容

本發明要解決的技術問題是：針對現有技術存在的問題，提供一種孔距比較測量儀，既能對被測孔距公差進行準確讀數判別，提高判定結果可靠性，也能進行大批量檢測，提升檢測效率。

本發明要解決的技術問題采用以下技術方案來實現：一種孔距比較測量儀，包括孔距公差讀數裝置、相對距離可調的兩個定位裝置和定位微調裝置，所述孔距公差讀數裝置與固定座連接固定，其中一個定位裝置與定位微調裝置固定連接，另一個定位裝置和定位微調裝置均活動連接在固定座上；測量時，由兩個定位裝置固定住被測件，所述定位微調裝置相對于固定座的直線運動距離通過孔距公差讀數裝置顯示。

進一步地，所述的孔距公差讀數裝置是百分表，測量時，所述百分表的測頭直接與定位微調裝置接觸。

進一步地，所述的百分表通過百分表座與固定座連接固定，所述百分表座底部與固定座活動連接，百分表座頂部夾持件與百分表的表柄連接固定。

進一步地，每一個所述的定位裝置包括一個定位銷座和一個定位銷，所述定位銷與定位銷座相互垂直且活動連接，其中一個定位銷座與定位微調裝置固定連接，另一個定位銷座安裝于固定座卡槽中且相對于固定座直線運動。

進一步地，所述的定位微調裝置由芯柱、浮動塊和壓簧組成，所述芯柱貫穿浮動塊且與浮動塊固定連接，所述浮動塊安裝在固定座上的滑槽中并由壓簧控制其活動位移。

進一步地，所述的定位微調裝置中的壓簧安裝在固定座端部的沉孔中，并通過螺堵與固定座組成螺紋活動連接來調整壓簧的彈力。

進一步地，所述的芯柱與浮動塊之間通過固定銷貫穿芯柱和浮動塊連接固定。

與現有技術相比，本發明的有益效果是：將與被測工件上的孔距相一致的標準件定位安裝到測量儀上相對距離可調的兩個定位裝置之間，調整定位微調裝置，并根據標準件實際尺寸校準孔距公差讀數裝置零位，作為被測工件名義尺寸位置。調整校準完成后，取下標準件，換上被測工件即可進行比較測量，測值與零位的差值即為工件上孔距尺寸的公差值，該公差值直接由孔距公差讀數裝置直觀顯示，方便讀取，不受加工尺寸影響，因此操作方便、可靠，測量精度高；而且可以確保在大批量測量時的測量數值穩定，大大提升了測量效率，有利于降低檢測成本。

附圖說明

圖1為本發明一種孔距比較測量儀的主視圖。

圖2為本發明一種孔距比較測量儀的俯視圖。

圖3為本發明一種孔距比較測量儀的右視圖。

圖中標記：1-百分表，2-百分表座，3-第一螺釘，4-定位銷座，5-定位銷，6-芯柱，7-固定銷，8-浮動塊，9-固定座，10-第二螺釘，11-壓簧，12-螺堵，13-滑槽，14-第三螺釘。

具體實施方式

為了使本發明的目的、技術方案及優點更加清楚明白，下面結合附圖和具體實施例對本發明進行詳細說明。應當理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本發明，并不用于限定本發明。