[發明專利]光學元件、分析裝置、分析方法及電子設備在審
| 申請號: | 201410067294.X | 申請日: | 2014-02-26 |
| 公開(公告)號: | CN104007494A | 公開(公告)日: | 2014-08-27 |
| 發明(設計)人: | 杉本守 | 申請(專利權)人: | 精工愛普生株式會社 |
| 主分類號: | G02B5/00 | 分類號: | G02B5/00;G01N21/65;G01N21/55 |
| 代理公司: | 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240 | 代理人: | 余剛;吳孟秋 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 光學 元件 分析 裝置 方法 電子設備 | ||
1.一種光學元件,其特征在于,
包括:
金屬層,以第一方向為厚度方向;
金屬粒子,沿所述第一方向與所述金屬層分離設置;以及
透光層,使所述金屬層和所述金屬粒子分離,
所述金屬粒子的所述第一方向的大小T滿足3nm≤T≤14nm的關系,
所述金屬粒子的與所述第一方向正交的第二方向的大小D滿足30nm≤D<50nm的關系。
2.根據權利要求1所述的光學元件,其特征在于,
所述D滿足30nm≤D≤40nm的關系。
3.根據權利要求1或2所述的光學元件,其特征在于,
所述T滿足3nm≤T≤6nm的關系。
4.根據權利要求1至3中任一項所述的光學元件,其特征在于,
所述金屬粒子在所述第二方向以及與所述第一方向和所述第二方向正交的第三方向具有間距P而配置成矩陣狀,
所述P滿足60nm≤P≤140nm的關系。
5.根據權利要求1至4中任一項所述的光學元件,其特征在于,
所述透光層包含氧化硅,
所述透光層的所述第一方向的厚度G滿足10nm≤G≤150nm、或200nm≤G≤350nm的關系。
6.根據權利要求1至4中任一項所述的光學元件,其特征在于,
所述透光層是具有正的介電常數的電介質,
二級峰的增強度SQRT比初級峰增強度SQRT大或相等,
所述透光層的所述第一方向的厚度G設定為在所述二級峰的增強度SQRT的厚度。
7.根據權利要求1至6中任一項所述的光學元件,其特征在于,
照射具有比所述T及所述D大的波長的光時,使拉曼散射光增強。
8.一種分析裝置,其特征在于,
包括:
權利要求1至7中任一項所述的光學元件;
光源,向所述光學元件照射光;以及
檢測器,檢測與來自所述光源的光的照射相應地從所述光學元件放射的光。
9.根據權利要求8所述的分析裝置,其特征在于,
所述檢測器檢測通過所述光學元件增強的拉曼散射光。
10.根據權利要求8或9所述的分析裝置,其特征在于,
所述光源向所述光學元件照射具有比所述T以及所述D大的波長的光。
11.一種分析方法,其特征在于,
是向光學元件照射光、檢測與所述光的照射相應地從所述光學元件放射的光并分析對象物的分析方法,
所述光學元件包括:
金屬層,以第一方向為厚度方向;
金屬粒子,沿所述第一方向與所述金屬層分離設置;以及
透光層,使所述金屬層和所述金屬粒子分離,
所述金屬粒子的所述第一方向的大小T滿足3nm≤T≤14nm的關系,
所述金屬粒子的與所述第一方向正交的第二方向的大小D滿足30nm≤D<50nm的關系。
12.一種電子設備,其特征在于,
包括:
權利要求8至10中任一項所述的分析裝置,
運算部,根據來自所述檢測器的檢測信息運算健康醫療信息;
存儲部,存儲所述健康醫療信息;以及
顯示部,顯示所述健康醫療信息。
13.根據權利要求12所述的電子設備,其特征在于,
所述健康醫療信息包含與從包括細菌、病毒、蛋白質、核酸及抗原/抗體的組中選擇的至少一種生物體關聯物質、或者從無機分子及有機分子選擇的至少一種化合物的有無或數量相關的信息。
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