[發明專利]基于PDMS三維微納天線的表面增強拉曼散射微流控系統

有效

• 申請號: 201410064274.7
• 申請日: 2014-02-25
• 公開（公告）號: CN103785492A
• 公開（公告）日: 2014-05-14
• 發明（設計）人: 朱永;張潔;張曉蕾;李鈞穎
• 申請（專利權）人: 重慶大學
• 主分類號: B01L3/00
• 分類號: B01L3/00;G01N21/65
• 代理公司: 重慶華科專利事務所 50123
• 代理人: 康海燕

1.基于PDMS三維微納天線的表面增強拉曼散射微流控系統，其特征在于：所述微流控系統包括微通道基板、微通道、基于PDMS/銀納米粒子/石墨烯的三維微納天線結構的拉曼散射基底、激光源、光譜儀、光纖和SERS光纖探針；所述微通道位于微通道基板上，微通道采用PDMS材料，其兩端封閉，并緊挨封閉端上側分別設待測分子入射小孔和待測分子出射小孔，基于PDMS/銀納米粒子/石墨烯的三維微納天線結構的拉曼散射基底設置在微通道中，作為探測區，所述激光源和光譜儀分別通過光纖連接SERS探針，SERS探針位于探測區上方，并照射到微通道的探測區；

所述基于PDMS/銀納米粒子/石墨烯的三維微納天線結構的拉曼散射基底包括PDMS三維微納天線結構、銀納米粒子層和石墨烯層；所述銀納米粒子層是利用濺射和真空退火方法修飾在PDMS三維微納天線結構表面，所述石墨烯層是通過轉移附著在銀納米粒子表面；

待測分子由入射小孔進入，流過探測區的拉曼散射基底，待測分子吸附到拉曼散射基底上，激勵光源通過光纖、SERS探針，照射吸附有待測分子的拉曼散射基底，待測分子的散射信號由SERS探針、光纖導出到光譜儀，完成待測分子拉曼信號檢測。

2.根據權利要求1所述的基于PDMS三維微納天線的表面增強拉曼散射微流控系統，其特征在于：基于PDMS/銀納米粒子/石墨烯的三維微納天線結構的制作方法是首先采用納米壓印方法制備PDMS三維微納天線結構；再利用濺射和真空退火方法在將銀納米粒子修飾在PDMS三維微納天線結構表面；再將石墨烯轉移到銀納米粒子上，從而形成基于PDMS/銀納米粒子/石墨烯的三維微納天線結構表面增強拉曼散射基底。