[發明專利]一種分層式顆粒濃度測量裝置及方法

有效

• 申請號: 201410061881.8
• 申請日: 2014-02-24
• 公開（公告）號: CN103852405B
• 公開（公告）日: 2016-11-16
• 發明（設計）人: 金爽;鐘俊峰;廖世遷
• 申請（專利權）人: 深圳市芯通信息科技有限公司
• 主分類號: G01N15/06
• 分類號: G01N15/06
• 代理公司: 北京中濟緯天專利代理有限公司 11429
• 代理人: 張曉霞

1.一種分層式顆粒濃度測量裝置，其特征在于，包括進氣通道，以及與該進氣通道的下部出氣口連通的上出氣通道和下出氣通道，所述上出氣通道位于所述下出氣通道的上方；所述上出氣通道和所述下出氣通道的側部分別對應的設置有第一顆粒濃度測量裝置和第二顆粒濃度測量裝置，用于測量流經它們內部的空氣中的顆粒濃度；其中，在所述上出氣通道和/或所述下出氣通道內設有用于幫助所述進氣通道加速進氣的裝置。

2.如權利要求1所述的分層式顆粒濃度測量裝置，其特征在于，所述第一顆粒濃度測量裝置和第二顆粒濃度測量裝置的結構相同，具體包括至少一個光源和至少一個探測器，所述光源產生的光束從所述上出氣通道或下出氣通道的通壁上所開的孔中射入，其遇顆粒后產生的散射光至少部分為所述探測器所接收，所述探測器根據所接收的散射光測量出顆粒濃度。

3.如權利要求2所述的分層式顆粒濃度測量裝置，其特征在于，所述光源的光路和所述孔的軸線之間形成的夾角與所述探測器到所述孔的直線和所述孔的軸線之間形成的夾角相等。

4.?如權利要求2所述的分層式顆粒濃度測量裝置，其特征在于，在所述光源到所述孔之間，和/或，在所述孔到所述探測器之間，設置有光學聚焦鏡。

5.如權利要求2所述的分層式顆粒濃度測量裝置，其特征在于，所述探測器包括光電轉換器件，所述光電轉換器件具體為PD光電二級通、PIN光電二極通、APD光電雪崩二極通或PMT光電倍增通。

6.如權利要求1、2、3、4或5所述的分層式顆粒濃度測量裝置，其特征在于，所述光源為LED光源或激光光源。

7.如權利要求1、2、3、4或5所述的分層式顆粒濃度測量裝置，其特征在于，所述上出氣通道連接所述進氣通道的一端具有向上的倒角結構。

8.如權利要求1、2、3、4或5所述的分層式顆粒濃度測量方法，其特征在于，所述進氣通道的至少下半段基本豎直。

9.如權利要求2、3、4或5所述的分層式顆粒濃度測量裝置，其特征在于，所述用于幫助所述進氣通道加速進去的裝置為加熱器。

10.一種分層式顆粒濃度測量方法，其特征在于，其步驟包括：

設置一進氣通道，以及與該進氣通道的下部出氣口連通的上出氣通道和下出氣通道，所述上出氣通道位于所述下出氣通道的上方；

對所述下出氣通道和/或上出氣通道的內部進行減壓處理，使其產生吸力以幫助所述進氣通道加速吸入外部空氣；

根據重力沉降和慣性原理，對流經所述進氣通道的空氣中夾雜的不同粒徑的顆粒實施分離，其中較大顆粒進入所述下出氣通道中，較小顆粒進入所述上出氣通道中；

分別對所述上出氣通道和下出氣通道中的空氣的顆粒濃度進行測量，得出不同粒徑顆粒在空氣中的濃度。