[發明專利]一種陣列基板檢測方法及檢測裝置

有效

• 申請號: 201410061082.0
• 申請日: 2014-02-21
• 公開（公告）號: CN103852922A
• 公開（公告）日: 2014-06-11
• 發明（設計）人: 蔡振飛;張銀忠;陳正偉
• 申請（專利權）人: 合肥鑫晟光電科技有限公司;京東方科技集團股份有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13;G01R31/02
• 代理公司: 北京中博世達專利商標代理有限公司 11274
• 代理人: 申健

技術領域

本發明涉及顯示技術領域，尤其涉及一種陣列基板檢測方法及檢測裝置。

背景技術

TFT-LCD（Thin?Film?Transistor-Liquid?Crystal?Display，薄膜晶體管液晶顯示裝置）最為一種平板顯示裝置，因其具有體積小、功耗低、無輻射以及制作成本相對較低等特點，而越來越多地被應用于高性能顯示領域當中。

液晶顯示裝置主要包括液晶顯示面板以及驅動該液晶顯示面板的驅動裝置；液晶顯示面板主要包括相對設置的陣列基板和彩膜基板。其中，陣列基板上設置有多條橫縱交叉的柵線和數據線，并界定出多個以矩陣形式排列的像素單元。驅動裝置包括將掃描信號輸出至柵線的柵極驅動電路以及將數據信號輸出至數據線是源極驅動電路。

為了減少液晶顯示裝置的總尺寸以及制造成本，現有的柵極驅動電路常采用GOA（Gate?Driver?on?Array，陣列基板行驅動）設計將TFT柵極開關電路集成在顯示面板的陣列基板上以形成對液晶顯示面板的掃描驅動。對于大尺寸的液晶顯示面板，由于電路中設置有過多的電容和電阻，會在信號傳輸的過程中對信號的強度進行消弱。因此，可以在顯示面板的兩側均綁定（banding）有PCB（Printed?CircuitBoard，印刷電路板）同時對顯示面板上的柵線進行驅動。然而，這樣一來，如圖1所示，在對上述顯示面板上的柵線進行檢測時，由于陣列基板的兩側均設置有短路環（Shorting）。例如，各條柵線10的兩端分別與位于陣列基板兩側的第一檢測線11以及第二檢測線12連接，形成短路環。這樣一來，通過現有技術中的柵線通斷檢測方法將無法檢測出柵極斷路的情況。具體的，現有技術中的柵線通斷檢測方法是在待檢測柵線的兩端分別設置一個信號發射/接收單元，每個信號發射/接收單元既可以發射測試信號，也可以接收測試信號；在對待檢測柵線的通斷檢測過程中，如果一個信號發射/接收單元發射測試信號，例如，圖中的第一信號發射/接收單元20發射測試信號，即使待檢測柵線斷路，但是由于上述短路環的存在，測試信號會通過待檢測柵線相鄰的柵線，傳遞至第二信號發射/接收單元21，從而導致柵線斷路無法被檢出。

發明內容

本發明的實施例提供一種陣列基板檢測方法及檢測裝置，能夠準確地檢測待檢測柵線的通斷狀態。

為達到上述目的，本發明的實施例采用如下技術方案：

本發明實施例的一方面，提供一種陣列基板檢測方法，包括：

將至少一行第一柵線與第一檢測線相連接；在所述第一柵線上設置至少一個第一信號收發單元，以發送或接收檢測信號；

將至少一行第二柵線與第二檢測線相連接；或，與所述第一檢測線和所述第二檢測線相連接；在所述第二柵線上設置至少一個第二信號收發單元，以發送或接收所述檢測信號。

本發明實施例的另一方面，提供一種陣列基板檢測裝置，包括：

至少一個第一信號收發單元，設置于第一柵線上，用于發送或接收檢測信號；

至少一個第二信號收發單元，設置于第二柵線上，用于發送或接收所述檢測信號。

本發明實施例提供一種陣列基板檢測方法及檢測裝置，該方法包括：將第一柵線與第一檢測線相連接，第二柵線與第二檢測線相連接；或，與第一檢測線和第二檢測線相連接；在第一柵線上設置至少一個第一信號收發單元，在第二柵線上設置至少一個第二信號收發單元；分別發送或接收用于檢測第一柵線或第二柵線的檢測信號。這樣一來，可以避免相鄰的兩條柵線與第一檢測線和第二檢測線同時連接時，測試信號會通過與待檢測柵線相鄰的柵線后被待測柵線上的信號接收器接收，而導致待測柵線的斷路狀態無法檢出的現象產生，從而能夠準確地對待測柵線的通斷情況進行檢測。

附圖說明

為了更清楚地說明本發明實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。

圖1為現有技術提供的一種陣列基板檢測方法示意圖；

圖2為本發明實施例提供的一種陣列基板檢測方法流程圖；

圖3為本發明實施例提供的一種陣列基板檢測方法示意圖；

圖4為本發明實施例提供的另一種陣列基板檢測方法示意圖；

圖5為本發明實施例提供的另一種陣列基板檢測方法示意圖；

圖6為本發明實施例提供的又一種陣列基板檢測方法示意圖；