[發(fā)明專利]在計(jì)算機(jī)斷層掃描中標(biāo)示參考線的方法和設(shè)備

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201410060828.6
• 申請(qǐng)日: 2014-02-24
• 公開（公告）號(hào): CN104856715A
• 公開（公告）日: 2015-08-26
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 陶婧
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 上海西門子醫(yī)療器械有限公司
• 主分類號(hào): A61B6/03
• 分類號(hào): A61B6/03
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及醫(yī)學(xué)影像技術(shù)，特別是計(jì)算機(jī)斷層掃描。

背景技術(shù)

在進(jìn)行臨床CT檢查和后處理后，CT設(shè)備會(huì)生成掃描圖像(包括定位像和斷層圖像)。圖1是現(xiàn)有技術(shù)的掃描圖像的示意圖。圖1所示的掃描圖像包括一定位像100和加載的多個(gè)斷層圖像102。定位像100上的參考線104表示斷層掃描所在的位置，以便醫(yī)生直觀地看出，從而輔助診斷。若掃描100張斷層圖像，在目前的軟件中，即使只打印一部分圖像(例如其中20張發(fā)現(xiàn)病灶的圖像)，定位像中的參考線也會(huì)包含這100張斷層圖像對(duì)應(yīng)的參考線。這既不符合邏輯，也使得參考線失去了原本的意義。此外，在參考線多的時(shí)候，將看不清背后的定位像。

發(fā)明內(nèi)容

有鑒于此，本發(fā)明提出了一種在計(jì)算機(jī)斷層掃描中標(biāo)示參考線的方法和計(jì)算機(jī)斷層掃描設(shè)備，用以清楚地看出斷層掃描圖像的位置。

根據(jù)本發(fā)明的第一方面，提供一種在計(jì)算機(jī)斷層掃描中標(biāo)示參考線的方法，包括：加載至少一個(gè)斷層掃描圖像；在所述斷層掃描圖像對(duì)應(yīng)的一定位像上標(biāo)示所述斷層掃描圖像對(duì)應(yīng)的第一參考線，所述定位像上未標(biāo)示未加載的斷層掃描圖像對(duì)應(yīng)的第二參考線。

在一實(shí)施例中，所述方法包括：根據(jù)加載的斷層掃描圖像的數(shù)量，確定所述第一參考線的透明度并以所述透明度標(biāo)示所述第一參考線。

在一實(shí)施例中，所述方法包括：接收有關(guān)所述第一參考線的透明度的指令并以所述透明度標(biāo)示所述第一參考線。

根據(jù)本發(fā)明的第二方面，提供一種計(jì)算機(jī)斷層掃描設(shè)備，包括：一斷層掃描圖像加載單元，其加載至少一個(gè)斷層掃描圖像；一參考線標(biāo)示單元，其在所述斷層掃描圖像對(duì)應(yīng)的一定位像上標(biāo)示所述斷層掃描圖像對(duì)應(yīng)的第一參考線，所述定位像上未標(biāo)示未加載的斷層掃描圖像對(duì)應(yīng)的第二參考線。

在一實(shí)施例中，所述設(shè)備包括一透明度確定單元，其根據(jù)加載的斷層掃描圖像的數(shù)量，確定所述第一參考線的透明度；所述參考線標(biāo)示單元以所述透明度標(biāo)示所述第一參考線。

在一實(shí)施例中，所述設(shè)備包括一透明度指令接收單元，其接收有關(guān)所述第一參考線的透明度的指令；所述參考線標(biāo)示單元以所述透明度標(biāo)示所述第一參考線。

從上述方案中可以看出，由于本發(fā)明僅標(biāo)示加載的斷層掃描圖像的參考線，因此，計(jì)算機(jī)斷層掃描設(shè)備的用戶可清楚地看出斷層掃描圖像的位置，不受其他參考線的干擾。

附圖說明

下面將通過參照附圖詳細(xì)描述本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例，使本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員更清楚本發(fā)明的上述及其它特征和優(yōu)點(diǎn)，附圖中：

圖1為現(xiàn)有技術(shù)的掃描圖像的示意圖。

圖2為根據(jù)本發(fā)明的第一實(shí)施例的在計(jì)算機(jī)斷層掃描中標(biāo)示參考線的方法的流程示意圖。

圖3為根據(jù)本發(fā)明的第二實(shí)施例的在計(jì)算機(jī)斷層掃描中標(biāo)示參考線的方法的流程示意圖。

圖4為根據(jù)本發(fā)明的第三實(shí)施例的一計(jì)算機(jī)斷層掃描設(shè)備的結(jié)構(gòu)框圖。

圖5為根據(jù)本發(fā)明的第四實(shí)施例的一計(jì)算機(jī)斷層掃描設(shè)備的結(jié)構(gòu)框圖。

在上述附圖中，所采用的附圖標(biāo)記如下：

具體實(shí)施方式

為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚，以下舉實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)一步詳細(xì)說明。

圖2為根據(jù)本發(fā)明的第一實(shí)施例的在計(jì)算機(jī)斷層掃描中標(biāo)示參考線的方法200的流程示意圖。在計(jì)算機(jī)斷層掃描中標(biāo)示參考線的方法200包括：

S202：加載至少一個(gè)斷層掃描圖像；

S206：在斷層掃描圖像對(duì)應(yīng)的一定位像上標(biāo)示斷層掃描圖像對(duì)應(yīng)的第一參考線，定位像上未標(biāo)示未加載的斷層掃描圖像對(duì)應(yīng)的第二參考線。“第一參考線”和“第二參考線”分別對(duì)應(yīng)定位像上標(biāo)示的斷層掃描圖像和未標(biāo)示的斷層掃描圖像，為行文方便起見，以不同的術(shù)語表示。斷層掃描圖像均具有一個(gè)相對(duì)于定位像的位置，可根據(jù)該位置標(biāo)示第一參考線。這樣，定位像上的第一參考線就能直觀地體現(xiàn)加載的斷層掃描圖像的位置，而不受未加載的斷層掃描圖像的第二參考線的干擾。

可選地，在計(jì)算機(jī)斷層掃描中標(biāo)示參考線的方法200還可包括：

S204：根據(jù)加載的斷層掃描圖像的數(shù)量，確定第一參考線的透明度并以透明度標(biāo)示第一參考線。這樣，當(dāng)加載的斷層掃描圖像較多時(shí)，可以以較高的透明度標(biāo)示第一參考線，以便看清第一參考線底下的定位像。

圖3為根據(jù)本發(fā)明的第二實(shí)施例的在計(jì)算機(jī)斷層掃描中標(biāo)示參考線的方法300的流程示意圖。在計(jì)算機(jī)斷層掃描中標(biāo)示參考線的方法300包括：

S302：加載至少一個(gè)斷層掃描圖像；