[發明專利]輥壓設備以及厚度測量系統

有效

• 申請號: 201410060244.9
• 申請日: 2014-02-21
• 公開（公告）號: CN104009201A
• 公開（公告）日: 2014-08-27
• 發明（設計）人: 多田健一郎;山我拓;渡邊修平
• 申請（專利權）人: 株式會社日立電力解決方案
• 主分類號: H01M4/00
• 分類號: H01M4/00;G01B21/00
• 代理公司: 北京銀龍知識產權代理有限公司 11243
• 代理人: 鐘晶;於毓楨

1.一種輥壓設備，其特征在于，具備對帶狀材料進行壓縮加工的輥壓機主體，所述帶狀材料具有在金屬箔集電體的基材上涂布有電極活性物質的涂覆部和未涂布電極活性物質的未涂覆部，

所述輥壓設備具備厚度測量系統，該厚度測量系統配置在所述輥壓機主體的下游側，具有測量由所述輥壓機主體進行了壓縮加工的帶狀材料的厚度的厚度測量傳感器，

所述厚度測量系統具有：

導輥，設置在所述厚度測量傳感器的上游側和下游側，將所述帶狀材料導向所述厚度測量傳感器；以及

彈性導輥，設置在所述導輥之間、而且在所述厚度測量傳感器的前和/或后，該彈性導輥與所述帶狀材料接觸時，由于變形，該彈性導輥的輥面抵接所述涂覆部而對所述涂覆部賦予張力。

2.根據權利要求1所述的輥壓設備，其特征在于，

所述厚度測量傳感器是設置在所述帶狀材料的兩側，測量到材料為止的距離的激光傳感器。

3.根據權利要求2所述的輥壓設備，其特征在于，所述彈性導輥是至少表面由海綿狀物質構成的導輥。

4.根據權利要求3所述的輥壓設備，其特征在于，

所述導輥和所述彈性導輥夾著所述帶狀材料而設于相反側，

作為設于所述厚度測量傳感器的上游側的所述導輥，使用將所述帶狀材料的皺折沿寬度方向展平的輥。

5.根據權利要求1～4中任一項所述的輥壓設備，其特征在于，

具備修正所述輥壓機主體的輥的撓曲的彎曲機構，

基于來自所述厚度測量傳感器的厚度測定值，單獨或者組合地進行對所述輥壓機主體的輥間隙進行調整的壓制機構和所述彎曲機構的反饋控制。

6.一種厚度測量系統，其特征在于，測量利用對帶狀材料進行壓縮加工的輥壓機主體進行了壓縮加工的帶狀材料的厚度，所述帶狀材料具有在金屬箔集電體的基材上涂布有電極活性物質的涂覆部和未涂布電極活性物質的未涂覆部，所述厚度測量系統具有：

厚度測量傳感器，具有設置在所述帶狀材料的兩側，測量到材料為止的距離的激光傳感器，

導輥，設置在所述厚度測量傳感器的上游側和下游側，將所述帶狀材料導向所述厚度測量傳感器；以及

彈性導輥，設置在所述導輥之間、而且在所述厚度測量傳感器的前和/或后，至少表面由海綿狀物質構成，該彈性導輥與所述帶狀材料接觸時，由于變形，該彈性導輥的輥面抵接所述涂覆部而對所述涂覆部賦予張力。