[發明專利]基于窗函數設計的濾波器性能檢測方法和系統有效
| 申請號： | 201410058979.8 | 申請日： | 2014-02-20 |
| 公開（公告）號： | CN103823177A | 公開（公告）日： | 2014-05-28 |
| 發明（設計）人： | 李桂愉;楊超;肖恒輝;陳運動;賴志堅 | 申請（專利權）人： | 廣東省電信規劃設計院有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/3181 | 分類號： | G01R31/3181 |
| 代理公司： | 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224 | 代理人： | 王茹;陶品德 |
| 地址： | 510630 廣東省廣*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 基于 函數 設計 濾波器 性能 檢測 方法 系統 | ||
1.一種基于窗函數設計的濾波器性能檢測方法，其特征在于，包括如下步驟：
計算基于窗函數設計的濾波器的頻譜函數；
確定所述頻譜函數的實部和虛部，并根據所述實部和虛部獲取濾波器的頻譜主瓣寬度；
求解頻譜函數的旁瓣峰值，獲得濾波器的旁瓣峰值；
根據所述頻譜主瓣寬度和旁瓣峰值確定濾波器的濾波性能。
2.根據權利要求1所述的基于窗函數設計的濾波器性能檢測方法，其特征在于，計算基于窗函數設計的濾波器的頻譜函數的公式包括：
式中，W(ω)為濾波器的頻譜函數，取值為復數，h(n)為窗函數，M表示濾波器的階數，取值為正整數。
3.根據權利要求1所述的基于窗函數設計的濾波器性能檢測方法，其特征在于，確定所述頻譜函數的實部和虛部，并根據所述實部和虛部獲取濾波器的頻譜主瓣寬度的步驟包括：
計算所述頻譜函數的實部和虛部；
求解所述實部和虛部的第一個相同零點；
根據所述第一個相同零點確定濾波器的頻譜主瓣寬度。
4.根據權利要求3所述的基于窗函數設計的濾波器性能檢測方法，其特征在于，求解所述實部和虛部的第一個相同零點的步驟包括：
S201，獲取濾波器的階數M、搜索區間[0,π]、搜索間隔α以及誤差系數ε，設置i=2；
S202，計算R{W(ωi)}和R{W(ωi+1)}；其中，R{W(ωi)}為頻譜函數的實部；
S203，若滿足R{W(ωi)}≤ε，則ωR=ωi，轉到步驟S206；否則轉步驟S204；
S204，若滿足R{W(ωi+1)}≤ε，則ωR=ωi+1，轉到步驟S206；否則轉步驟S205；
S205，若滿足R{W(ωi)}×R{W(ωi+1)}<0，則轉到步驟S206；否則i=i+1，轉到步驟S202；
S206，計算I{W(ωR)}，其中I{W(ωR)}為頻譜函數的虛部；
S207，判斷是否滿足I{W(ωR)}≤ε，若是，執行步驟S208，否則，令i=i+1，轉到步驟S202；
S208，確定實部和虛部的第一個相同零點。
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