[發明專利]一種分析儲層孔隙度的方法在審
| 申請號: | 201410058847.5 | 申請日: | 2014-02-20 |
| 公開(公告)號: | CN104863572A | 公開(公告)日: | 2015-08-26 |
| 發明(設計)人: | 張軍;李軍;武清釗;蘇俊磊;南澤宇;王曉暢 | 申請(專利權)人: | 中國石油化工股份有限公司;中國石油化工股份有限公司石油勘探開發研究院 |
| 主分類號: | E21B47/08 | 分類號: | E21B47/08;E21B49/00 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 分析 孔隙 方法 | ||
技術領域
本發明屬于石油地球物理勘探技術領域,涉及一種分析儲層孔隙度的方法,該方法用于測井資料處理解釋和儲量分析中的孔隙度分析。
背景技術
孔隙度分析是測井解釋和儲量計算中的重要環節,通常利用測井參數與巖心分析孔隙度建立數理統計關系,并由此進行孔隙度分析。由于測井資料質量受井眼狀況、測量儀器工作狀態等因素的影響,同時巖心分析實驗也存在一定的測量誤差,因此建立測井參數與巖心分析孔隙度數理統計關系時常存在一些異常點,這些異常點不符合測井參數與巖心分析孔隙度的整體關系趨勢,如何準確地識別并放棄這些異常點,從而得到能代表測井參數與巖心分析孔隙度整體關系趨勢的特征數據,是孔隙度建模面臨的一個重要問題。當前測井解釋人員常用的方法是先利用全部數據建模,然后憑借肉眼一次刪除一個或幾個在游離于整體關系趨勢之外的異常點,之后再利用剩下的數據點來建立測井參數與巖心分析孔隙度數理統計關系,再次刪除異常點,如此多次,直到得到自己覺得滿意的孔隙度模型。這個過程較繁復,又依賴于測井解釋人員的判斷。
因此目前需要研究開發一種方法,能快速自動識別異常點,挑選出能代表測井參數與巖心分析孔隙度整體趨勢的特征數據來準確建立測井參數與巖心分析孔隙度數理統計關系,從而能夠由測井參數準確的對孔隙度進行分析。
發明內容
本發明所要解決的技術問題是針對現有技術的不足,提供一種分析儲層孔隙度的方法。該方法在建立儲層的巖心分析孔隙度和測井參數的對應關系過程中快速識別并排除異常點,挑選能代表測井參數與巖心分析孔隙度整體趨勢的特征數據快速建立較為準確的建立儲層的巖心分析孔隙度和測井參數的對應關系,并利用該對應關系通過待解釋儲層的測井參數來準確分析待解釋儲層的孔隙度。
為此,本發明提供了一種分析儲層孔隙度的方法,其包括:
步驟A,通過測井資料獲取儲層的測井參數;
步驟B,測量儲層中n個深度的巖心分析孔隙度;
步驟C,建立儲層的巖心分析孔隙度與測井參數的對應關系;
步驟D,利用步驟C中所建立的儲層的巖心分析孔隙度與測井參數的對應關系通過測井參數來確定待解釋儲層的孔隙度。
本發明中,所述測井參數包括測井實測值和/或測井計算值。
所述測井實測值包括聲波時差測井值、密度測井值、中子測井值中的至少一個。所述測井計算值由聲波時差測井值、密度測井值、中子測井值中的至少一個計算得到。例如,測井計算值包括但不限于由聲波時差測井值計算得到的聲波孔隙度、密度測井值計算得到的密度孔隙度、中子測井值計算得到的中子孔隙度、中子測井值與密度測井值(或聲波時差測井值)計算得到的平均孔隙度等。
本發明中,n為正整數。
根據本發明,步驟C包括:
步驟K,以測井參數為橫坐標,以巖心分析孔隙度為縱坐標,建立平面直角坐標系,并將n對巖心分析孔隙度和相同深度的測井參數所對應的n個數據點繪制于坐標系內,并且所述數據點的坐標為(xj,yj),
其中,xj為測井參數值;
yj為巖心分析孔隙度;
j=1、2、…、n-i;
i=0、1、2、…n-1;
步驟L,對n-i對巖心分析孔隙度和相同深度的測井參數所對應的n-i個數據點進行線性擬合獲得如式(Ⅰ)所示的擬合直線;
y=ai·x+bi??????????????????????式(Ⅰ)
其中,ai為所述擬合直線的斜率,bi為所述擬合直線的截距,ai和bi均為步驟L直線擬合過程中直接獲得;
步驟M,通過式(Ⅱ)計算各數據點與步驟L中的擬合直線的距離;
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