[發明專利]OLED并行檢測分揀系統

在審

• 申請號: 201410058419.2
• 申請日: 2014-02-20
• 公開（公告）號: CN103792477A
• 公開（公告）日: 2014-05-14
• 發明（設計）人: 向欣;任海;樸章浩;張曉茗;王小月
• 申請（專利權）人: 四川虹視顯示技術有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26
• 代理公司: 成都宏順專利代理事務所(普通合伙) 51227
• 代理人: 周永宏

技術領域

本發明屬于OLED顯示技術領域，OLED面板的生產檢測工藝，具體涉及OLED顯示器件的一種并行檢測及分揀系統。

背景技術

作為第三代顯示器件，OLED具有顯示質量高、輕薄、低功耗的特性。在OLED器件的生產制造中，對器件電學性能的檢測并判斷其是否為良品并將不同產品分揀出來是生產過程的必要步驟。目前行業通用的做法是按照工藝設定的所有條件對基板上的各個器件逐個全檢，在全部器件檢測完成后由系統統計出不良品的個數和位置，再由操作人員根據系統提示用筆標在器件的背面標識出來，待到基板切割工序完成后，操作人員根據標識從中剔除良品和不良品放入不同的托盤中，分類進入之后的其他工序。這種方式在生產過程中的檢測速度慢，效率低并且操作人員在長時間的標識中容易產生人為的失誤。

發明內容

本發明的目的是為了解決現有的OLED檢測分揀依靠人工逐個全檢效率低下、容易產生人為操作失誤等不足，提出了一種OLED并行檢測分揀系統。

本發明的技術方案為：OLED并行檢測分揀系統，其特征在于，包括同時連接基板上各顯示單元的測試治具、用于存儲數據和控制系統運行的系統主機、矩陣開關控制單元和自動機械手；所述矩陣開關控制單元連接測試治具和系統主機，用于在系統主機的控制下將顯示單元逐個與對應的信號測試單元電聯通以完成該顯示單元的全檢測試；系統主機設定測試標準并記錄測試結果；所述信號測試單元用于存儲所述顯示單元的全檢測試信號；自動機械手用于根據系統主機控制將不同檢測結果的顯示單元分揀到不同的位置。

進一步的，所述系統還包括劃線裂片機，所述劃線裂片機與系統主機相連接，用于根據系統主機控制將基板上的顯示單元切割并分裂開。

進一步的，系統主機記錄的測試結果包括顯示單元的坐標位置及測試等級結果。

本發明的有益效果：本發明的OLED并行檢測分揀系統通過使用并行的測試治具同時與基板上的所有顯示單元相連接，并結合矩陣開關控制單元通過軟件控制測試的進行和記錄測試結果，根據測試結果控制劃線裂片機切割顯示單元的基礎上通過自動機械手自動分揀，實現測試與分揀的自動化進行。加快了OLED制造過程中的工序節拍，提高器件檢測效率。

附圖說明

圖1是本發明的OLED并行檢測分揀系統結構示意圖。

具體實施方式

本發明的實施例是根據本發明的原理而設計，下面結合附圖和具體的實施例對本發明作進一步的闡述。

如圖1所示，本發明的OLED并行檢測分揀系統，包括同時連接基板上各顯示單元的測試治具2、用于存儲數據和控制系統運行的系統主機、矩陣開關控制單元和自動機械手；所述矩陣開關控制單元連接測試治具和系統主機，具體通過數據總線3連接。用于在系統主機的控制下將顯示單元1逐個與對應的信號測試單元電聯通以完成該顯示單元的全檢測試；系統主機設定測試標準并記錄測試結果；所述信號測試單元用于存儲所述顯示單元的全檢測試信號；自動機械手用于根據系統主機控制將不同檢測結果的顯示單元分揀到不同的位置。所述系統還包括劃線裂片機，所述劃線裂片機與系統主機相連接，用于根據系統主機控制將基板上的顯示單元切割并分裂開。系統主機記錄的測試結果包括顯示單元的坐標位置及測試等級結果。

下面結合發明問題及原理對本實施例的方案做詳細描述：如圖1所示，OLED器件未切割前處于同一基板之上，因器件在基板上的排布是標準的陣列形式，所以可在軟件系統中按照生產工藝要求對其編號，具體編號方式比如橫向為數字，縱向為字母，如左上角第一個器件為A1。在開始對器件進行檢測之前，操作人員把基板安裝在分配治具上，使分配治具上的探針與各個器件的測試電極接觸連通。這些電路通過分配治具的端口線纜與矩陣開控制器實現通訊。通過對矩陣開關控制器進行設置，使基板上各個OLED器件的電極與矩陣開關各通道相對應。信號測試單元用于對單個器件的電學性能進行檢測，其信號測試要求的由系統主機指示并在測試完成后將測試結果的信息反饋給系統主機。系統主機在測試過程中根據信號測試單元反饋的結果來控制矩陣開關控制器內的通道的選擇。系統主機與劃線裂片機和自動機械手通訊連接，在劃線裂片機完成對基板的切割分裂后，自動機械手根據系統主機傳輸過來的關于基板上各個器件信息，對不同測試結果的器件分類拾取不同的托盤中。操作人員只需取走不同托盤即可進入下一道工序。