[發明專利]一種高調制度傅立葉變換光譜獲取方法及光譜儀有效
| 申請號: | 201410056723.3 | 申請日: | 2014-02-19 |
| 公開(公告)號: | CN103822716A | 公開(公告)日: | 2014-05-28 |
| 發明(設計)人: | 呂群波;相里斌;張金剛;姚濤;景娟娟;付強;方煜;馬原 | 申請(專利權)人: | 中國科學院光電研究院 |
| 主分類號: | G01J3/45 | 分類號: | G01J3/45 |
| 代理公司: | 北京凱特來知識產權代理有限公司 11260 | 代理人: | 鄭立明;趙鎮勇 |
| 地址: | 100080 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 高調 制度 傅立葉 變換 光譜 獲取 方法 光譜儀 | ||
1.一種高調制度傅立葉變換光譜獲取方法,其特征在于,包括:
將寬波段光譜進行色散后得到連續的單色光;
對所述單色光譜進行干涉測量得到高調制的單色光干涉圖。
2.根據權利要求1所述的高調制度傅立葉變換光譜獲取方法,其特征在于,將寬波段光譜進行色散后得到連續的單色光,包括:
采用色散元件,將所述寬波段光進行色散后得到連續的單色光,所述色散元件包括光柵或者棱鏡。
3.根據權利要求1或2所述的高調制度傅立葉變換光譜獲取方法,特征在于,對所述單色光譜進行干涉測量得到單色光干涉圖,包括:
所述單色光譜經成像鏡得到匯聚單色光;
所述匯聚單色光經橫向剪切干涉儀后形成兩束相干單色光;
所述相干單色光經傅立葉鏡后匯聚得到準直單色光;
所述準直單色光經柱面鏡后在探測器成像得到單色光干涉圖。
4.根據權利要求1或2所述的高調制度傅立葉變換光譜獲取方法,包括:
所述單色光譜經Michelson干涉儀后形成兩束相干單色光,所述Michelson干涉儀包括靜止反射鏡、運動反射鏡以及分束鏡;
所述相干單色光經傅立葉鏡后在探測器處產生干涉成像,隨著所述運動反射鏡的連續平移,所述運動反射鏡和所述靜止反射鏡間產生連續變化的光程差,所述探測器采樣得到不同光程差處的單色光干涉圖。
5.一種高調制度傅立葉變換光譜儀,其特征在于,包括:
色散分光單元,用于將寬波段光譜進行色散后得到連續的單色光;
干涉測量單元,用于對所述單色光譜進行干涉測量得到高調制的單色光干涉圖。
6.根據權利要求5所述的高調制度傅立葉變換光譜儀,其特征在于,所述色散分光單元為色散元件,所述色散元件包括光柵或者棱鏡。
7.根據權利要求5或6所述的高調制度傅立葉變換光譜儀,特征在于,所述干涉測量單元包括成像鏡、橫向剪切干涉儀、傅立葉鏡以及柱面鏡;
所述單色光譜經所述成像鏡得到匯聚單色光;
所述匯聚單色光經所述橫向剪切干涉儀后形成兩束相干單色光;
所述相干單色光經所述傅立葉鏡后匯聚得到準直單色光;
所述準直單色光經所述柱面鏡后在所述探測器成像得到單色光干涉圖。
8.根據權利要求5或6所述的高調制度傅立葉變換光譜儀,包括:
所述干涉測量單元包括Michelson干涉儀、傅立葉鏡以及探測器;
所述單色光譜經所述Michelson干涉儀后形成兩束相干單色光,所述Michelson干涉儀包括靜止反射鏡、運動反射鏡以及分束鏡;
所述相干單色光經所述傅立葉鏡后在所述探測器處產生干涉成像,隨著所述運動反射鏡的連續平移,所述運動反射鏡和所述靜止反射鏡間產生連續變化的光程差,所述探測器采樣得到不同光程差處的單色光干涉圖。
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