[發明專利]一種用于熱電阻采集模塊的溫度補償方法

無效

• 申請號: 201410054953.6
• 申請日: 2014-02-18
• 公開（公告）號: CN103759851A
• 公開（公告）日: 2014-04-30
• 發明（設計）人: 薛志波;林維生
• 申請（專利權）人: 悉雅特萬科思自動化（杭州）有限公司
• 主分類號: G01K7/16
• 分類號: G01K7/16
• 代理公司: 上海申匯專利代理有限公司 31001
• 代理人: 金碎平

1.一種用于熱電阻采集模塊的溫度補償方法，其特征在于，包括如下步驟：

a)預先采集熱電阻采集模塊的測量值隨環境溫度變化的樣本數據；

b)對采集到的樣本數據進行數據擬合得到熱電阻采樣值隨溫度的變化曲線，并將該變化曲線作為熱電阻采集模塊的溫度補償曲線；

c)實際測量時，熱電阻采集模塊獲得熱電阻采樣值后，根據熱電阻采集模塊當前的環境溫度，通過溫度補償曲線對熱電阻采樣值進行補償。

2.如權利要求1所述的用于熱電阻采集模塊的溫度補償方法，其特征在于，所述步驟a)中對同一型號的多個熱電阻采集模塊進行數據采集并計算平均值作為該型號的熱電阻采集模塊的測量值隨環境溫度變化的樣本數據。

3.如權利要求1所述的用于熱電阻采集模塊的溫度補償方法，其特征在于，所述步驟a)中熱電阻采集模塊的測量值為每種熱電阻隨環境溫度變化的電阻最大值，所述環境溫度變化的范圍為-20℃～70℃。

4.如權利要求1所述的用于熱電阻采集模塊的溫度補償方法，其特征在于，所述步驟b)中對每種熱電阻采樣值進行數據擬合，得到各自熱電阻采樣值隨溫度的變化曲線。

5.如權利要求1所述的用于熱電阻采集模塊的溫度補償方法，其特征在于，所述步驟c）中利用當前溫度下讀到的電阻值與25℃環境溫度下的電阻值與補償曲線上對應兩點的比值相等的原理，來求得25℃環境溫度下的電阻值，從而實現溫度補償。

6.如權利要求1所述的用于熱電阻采集模塊的溫度補償方法，其特征在于，所述步驟b)中擬合后的溫度補償曲線為S=a+b*exp(c*x)，其中，S是熱電阻采集模塊對某種類型熱電阻的采樣值，x是熱電阻采集模塊當前的環境溫度，a，b，c為溫度補償擬合參數。

7.如權利要求1所述的用于熱電阻采集模塊的溫度補償方法，其特征在于，所述熱電阻為銅50、銅100、鉑1000、鉑500、鉑200或鉑100。