[發明專利]均方根檢波器及使用所述均方根檢波器的斷路器有效
| 申請號： | 201410054948.5 | 申請日： | 2014-02-18 |
| 公開（公告）號： | CN103995173B | 公開（公告）日： | 2017-04-12 |
| 發明（設計）人： | 宣鍾局 | 申請（專利權）人： | LS產電株式會社 |
| 主分類號： | G01R19/02 | 分類號： | G01R19/02 |
| 代理公司： | 北京金信知識產權代理有限公司11225 | 代理人： | 黃威,徐愛萍 |
| 地址： | 韓國*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 方根 檢波器 使用 斷路器 | ||
1.均方根檢波器，其特征在于所述均方根檢波器包括：
多個電壓/電流感測單元，其被配置為檢測任意電負載的電壓或電流形式的模擬信號，并且在檢測到電流形式的模擬信號時將所檢測到的電流形式的模擬信號轉換為電壓形式的模擬信號；
多個平方電路單元，其被配置為分別基于從多個電壓/電流感測單元輸出的電壓來計算平方函數；
求和電路單元，其被配置為對分別從所述多個平方電路單元輸出的多個輸出電壓求和；以及
根電路單元，其被配置為基于從所述求和電路單元輸出的電壓來計算均方根值。
2.如權利要求1所述的均方根檢波器，其中，所述平方電路單元包括：
平方函數單元，其計算所述平方函數；
根函數單元，其計算根函數；以及
差動電路，其被配置為從所述平方函數單元的輸出電流中減去所述根函數單元的輸出電流。
3.如權利要求2所述的均方根檢波器，其中，所述平方函數單元包括：
第一電流源，其一端被連接至電流供應單元，而其另一端被連接至第一晶體管的源極；
第二電流源，其一端被連接至所述電流供應單元，而其另一端被連接至第二晶體管的源極；
第一晶體管，其源極被連接至所述第一電流源，而其柵極被連接至所述電壓/電流感測單元的電壓輸出端子，且其漏極被連接至輸出電流源；
第二晶體管，其源極被連接至所述第二電流源，而其柵極被連接至所述電壓/電流感測單元的所述電壓輸出端子，且其漏極被連接至所述輸出電流源；以及
輸出電流源，其一端被分別連接至所述第一晶體管的漏極和所述第二晶體管的漏極，而其另一端接地。
4.如權利要求2所述的均方根檢波器，其中，所述根函數單元包括：
第一電流源，其一端被連接至電流供應單元，而其另一端被連接至第三晶體管的源極、第四晶體管的柵極和第五晶體管的柵極；
第二電流源，其一端被連接至所述第三晶體管的柵極和所述第四晶體管的漏極，而其另一端接地；
第三電流源，其一端被連接至所述電流供應單元，而其另一端被連接至所述第五晶體管的源極；
第三晶體管，其源極被連接至所述第一電流源、所述第四晶體管的柵極和所述第五晶體管的柵極，其柵極被連接至所述第二電流源和所述第四晶體管的漏極，且其漏極接地；
第四晶體管，其源極被連接至所述電流供應單元，其柵極被連接至所述第一電流源以及所述第三晶體管的源極和所述第五晶體管的柵極，且其漏極被連接至所述第三晶體管的柵極和所述第二電流源；
第五晶體管，其源極被連接至所述第三電流源，其柵極被連接至所述第一電流源、所述第三晶體管的源極和所述第四晶體管的柵極，且其漏極被連接至第六晶體管的源極和柵極；以及
第六晶體管，其源極和柵極被連接至所述第五晶體管的漏極，且其漏極接地。
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