[發明專利]一種LCM測試機

有效

• 申請號: 201410054857.1
• 申請日: 2014-02-18
• 公開（公告）號: CN103777386B
• 公開（公告）日: 2017-02-22
• 發明（設計）人: 方勇茂;游仁文
• 申請（專利權）人: 安徽金視界光電科技有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13;G01R31/00
• 代理公司: 深圳市百瑞專利商標事務所(普通合伙)44240
• 代理人: 楊大慶

技術領域

本發明涉及一種測試儀器，尤其涉及一種LCM測試機。

背景技術

液晶調用模塊是即“Liquid?Crystal?Display?Module”，簡稱“LCM”，是一種將液晶顯示器件、連接件、集成電路、PCB線路板、背光源、結構件裝配在一起的組件，液晶顯示器件只有將驅動電路的電場信號施加到ITO導電電極上，才能實現顯示器件的顯示，因此，LCM就是將液晶顯示件的導電電極與驅動電路的電場信號連接起來，從而實現需要的顯示的內容。

隨著信息產業的迅猛發展，配套的液晶調用模塊需求量急增，特別是單色液晶模塊、CSTN液晶模塊、TFT液晶模塊的比例也逐漸增大。一般的模塊檢測方法都相對復雜、測試內容單一，通常使用單片機驅動調用模塊，為了檢測產品的功能電流及背光源壓降等參數，還需增加電流、電壓表或萬用表等工具，其工作原理是：單片機驅動LCM顯示，萬用表串接在測試架上監控LCM工作電流，操作員需一邊看顯示效果，一邊觀察電流是否超標，如果只需要檢測整個模塊功耗電流還相對容易一點，但如果要檢查主、副屏及背光的功耗電流時，就需分三次用萬用表分別檢測這三項電流，而且檢測每項時需要一邊看顯示效果一邊看電流變化是否超標，這種的檢測方式存在以下問題：1)檢驗結果不可靠，多靠主觀判斷，容易漏檢、誤判；2)效率低下：不同產品必須更換不同的單片機測試架，編寫新的驅動程序。而且，一款LCM產品對應一個測試程序和一個測試機，每次測試不同的產品都需要在測試機上灌入相對應測試程序，方可對液晶模組進行測試，測試產品的時候參數無法直接調節，也無法直觀讀出參數。

發明內容

本發明的目的是提供一種LCM測試機，提高現有的測試效率，解決了現有一臺LCM測試機無法測試多種LCM產品的問題。

本發明解決其技術問題所采用的技術方案是：一種LCM測試機，包括中央處理模塊，與中央處理模塊電連接的負壓控制模塊、對接模塊和調用模塊。

中央處理模塊包括兩兩互相相連的單片機、存儲器和數據緩沖模塊；所述單片機用于調取存儲器中的程序，控制數據緩沖模塊工作，并接收數據緩沖模塊、存儲器反饋的信息；所述數據緩沖模塊用于讀取存儲器的驅動程序，并與對接模塊相串聯；所述存儲器的信號輸出端與數據緩沖模塊的信號輸入端相連。負壓控制模塊用于將正壓輸入轉換為負壓，并與待測LCM相連，該負壓控制模塊的輸出端連接單片機的輸入端，負壓控制模塊的輸入端連接單片機的輸出端。對接模塊包括兩個并聯連接的20pin輸出模塊和26pin輸出模塊，該20pin輸出模塊或26pin輸出模塊分別與待測LCM的引腳對應連接。調用模塊包括與單片機相連的型號調用單元和A/D轉換電路，以及通過所述A/D轉換電路與單片機相連的控制顯示屏；所述單片機的輸入端與A/D轉換電路的輸出端相連。

為了避免插拔單片機IC，造成單片機IC損壞，LCM測試機還包括與單片機相連的在線編譯模塊。

為了方便調節電壓，LCM測試機還包括與單片機相連的手動調壓單元。

進一步的，數據緩沖模塊包括三個SN74HC245芯片，將數字信號由內部的V_CC邏輯電平轉換為V_dd模塊邏輯工作電壓電平，從而驅動待測LCM。

本發明的有益效果：由于單片機本身擁有豐富的拓展功能，通過設置與單片機相連的數據緩沖模塊以及儲存數據的存儲器，實現對多種型號LCM的測試，多個產品型號的程序寫入后直接調用即可，方便員工的操作，而且大大提高檢測效率。成本方面，一臺現有普通測試機一年消耗的單片機IC所用的金額遠遠大于本發明LCM測試機的制造成本。操作方面，本發明擁有存儲器和數據緩沖模塊，使得存儲量大大提高，雖然現有的LCM測試機也有存儲功能，但是調用型號后還需要設定參數，操作十分不便，本發明可對單色液晶模塊、CSTN液晶模塊、TFT液晶模塊進行檢測，涵蓋了所有模塊的產品測試。

附圖說明

以下將結合附圖和實施例，對本發明進行較為詳細的說明。

圖1為本發明的系統框圖。

圖2為本發明的結構原理圖。

圖3為圖2所示數據緩沖模塊與對接模塊的電路原理圖。

圖4為圖2所示單片機與A/D轉換電路的電路原理圖。

圖5為本發明控制軟件的流程框圖。

具體實施方式

實施例，如圖1至2所示，本優選實施例中LCM測試機，包括中央處理模塊1，與中央處理模塊電連接的負壓控制模塊2、對接模塊3和調用模塊4。