[發明專利]校驗機器可讀代碼完整性的方法及系統

在審

• 申請號: 201410050859.3
• 申請日: 2014-02-14
• 公開（公告）號: CN104035833A
• 公開（公告）日: 2014-09-10
• 發明（設計）人: 王國鴻;陳正哲
• 申請（專利權）人: 聯發科技股份有限公司
• 主分類號: G06F11/10
• 分類號: G06F11/10
• 代理公司: 北京萬慧達知識產權代理有限公司 11111
• 代理人: 白華勝;段曉玲

技術領域

本發明有關于機器可讀代碼(machine-readable?code)完整性(integrity)校驗(checking)，更具體地，有關于透過提供附加(additional)校驗代碼(checking?code)而校驗機器可讀代碼完整性的方法及其系統。

背景技術

近年來，存儲裝置(memory?device)的每單位面積的存儲空間顯著增長。舉例說明，用在微SD卡(Micro?Secure?Digital?memory?card，Micro-SD?card)或者T卡(T?card)中的傳統的NAND閃存(flash)具有單層單元(Single?Level?Cell，SLC)，其中，更新的NAND閃存可以具有用于存儲多于一比特每單位的多層單元(Multi-Level?Cell，MLC)。由于制程技術的進步，存儲器單元大小也已經減小(shrunk)。小單元大小和高存儲密度的結合可能引起泄漏電流(leakage?current)，這可能導致存儲器單元已存儲數據被破壞。因此，現代存儲器單元的不穩定性顯著增加。

嵌入式系統中，機器代碼可以存儲在存儲卡(例如，閃存卡)用以存取和執行。如果在執行之前不能檢測到不穩定的機器代碼，那么嵌入式系統可能崩潰(crach)或者壞掉(break?down)。

因此，在執行不穩定的機器代碼之前需要存儲裝置(例如，存儲卡)完整性驗證機制以檢測不穩定的機器代碼，以提高系統可靠性。

發明內容

根據本發明的實施例，提供一種校驗機器可讀代碼的完整性的方法及系統以解決上述問題。

本發明的一個實施例提供一種校驗機器可讀代碼完整性的方法，包含：從一存儲器裝置裝載該機器可讀代碼；從該存儲器裝置裝該對應該機器可讀代碼的校驗代碼；當該機器可讀代碼的至少一部分以及該校驗代碼的至少一部分從該存儲器裝置的一存儲器控制器獲取時，對該機器可讀代碼的至少哦該部分實施一校驗運作以產生一校驗結果；以及根據該校驗代碼的至少該部分以及該校驗結果校驗該機器可讀代碼的至少該部分的完整性。

本發明的另一個實施例提供一種校驗機器可讀代碼完整性的系統，包含：存儲器裝置，用于存儲該機器可讀代碼；存儲器控制器，耦接到該存儲器裝置，用于從該存儲器裝置裝載該機器可讀代碼，以及從該存儲器裝置裝載對應該機器可讀代碼的一校驗代碼；以及校驗電路，耦接到該存儲器控制器，用于對該機器可讀代碼的至少一部分實施校驗運作以產生一校驗結果，當從該該存儲器裝置的存儲器控制器獲得該機器可讀代碼的至少該部分以及該校驗代碼的至少該部分時，以及根據該校驗代碼的至少該部分以及該校驗結果校驗該機器可讀代碼的至少該部分的完整性。

所屬領域技術人員在閱讀本申請說明書以及附圖之后可以理解本發明的實施例，然本發明的實施例以及附圖用以說明本發明，并不構成對本發明保護范圍的限制。本發明提供的校驗機器可讀代碼完整性的方法和系統可以在低成本情況下提高系統可靠性。

附圖說明

圖1為根據本發明的一個實施例，校驗機器可讀代碼完整性的系統方塊示意圖。

圖2為根據本發明的一個實施例，校驗機器可讀代碼另一個系統方塊示意圖。

圖3為根據本發明的第一實施例，校驗機器可讀代碼完整性的方法流程圖。

圖4為根據本發明的第二實施例，校驗機器可讀代碼的完整性方法流程圖。

圖5為圖4所用方法中，校驗和(checksum)比較(comparison)實現的示意圖。

圖6為根據本發明第一實施例，存儲器裝置中機器可讀代碼以及相關校驗代碼存儲器分配(storage?allocation)的示意圖。

圖7為根據本發明第二實施例，機器可讀代碼以及存儲器裝置中相關校驗代碼存儲器分配的示意圖。

圖8為根據本發明第三實施例機器可讀代碼以及存儲器裝置中相關校驗代碼的存儲器分配的示意圖。

具體實施方式

在說明書及權利要求當中使用了某些詞匯來指稱特定組件。所屬領域中技術人員應可理解，制造商可能會用不同的名詞來稱呼同一個組件。本說明書及權利要求并不以名稱的差異來作為區分組件的方式，而是以組件在功能上的差異來作為區分的準則。在通篇說明書及權利要求當中所提及的“包括”和“包含”為一開放式的用語，故應解釋成“包含但不限定于”。以外，“耦接”一詞在此包含任何直接及間接的電氣連接手段。間接的電氣連接手段包括通過其他裝置進行連接。