[發明專利]光學經緯儀微調腳架

無效

• 申請號: 201410050209.9
• 申請日: 2014-02-14
• 公開（公告）號: CN103808301A
• 公開（公告）日: 2014-05-21
• 發明（設計）人: 范雲鶴
• 申請（專利權）人: 范雲鶴
• 主分類號: G01C1/02
• 分類號: G01C1/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及建筑工程技術領域，尤其涉及一種光學經緯儀微調腳架。

背景技術

運用光學經緯儀進行工程測量時，首先要對儀器光學經緯儀的安置主要包括對中和整平兩部分，先對中然后整平，對中的目的是使儀器的中心與測站點位于同一鉛垂線上，需要采取移動腳架的操作，整平的目的是使儀器的豎軸處于鉛垂位置和水平度盤處于水平位置，需要采取轉動腳螺旋使水準管氣泡居中的操作，由于整平和對中往往不能同時滿足，整平之后，儀器的中心又會偏離測站點，需要重新對中，需要這樣反復操作使得儀器同時滿足對中和整平的目的。進行過一次對中之后，再次調整對中時只需要微調腳架，然而當遇到地形不平坦，凹凸不平時，不容易微調腳架，這樣就大大降低了工作效率。??????

發明內容

本發明的目的是設計一種光學經緯儀微調腳架，使得在地形復雜的地也可以高效的精確對中和精確整平。

本發明的技術方案是，一種光學經緯儀微調腳架，包括經緯儀安裝平臺，支架，微調支腳，防摩擦橡皮墊。經緯儀安裝平臺下面安裝三個支架，每個支架底端安裝微調支腳，在微調支腳中，支腳下體底端安裝防摩擦橡皮墊，支腳下體上端固定一個螺釘，螺釘上套有螺母，螺母外側套有橡皮圈，橡皮圈外側套有旋鈕外殼，螺釘穿過支腳上體底部的通孔，橡皮圈與支腳上體底部摩擦接觸。

所述的旋鈕外殼包裹在支腳上體和支腳下體外面。

所述的螺釘的螺紋間距為1mm。

測量時，將光學經緯儀安置好之后，在對中過程中，需要微調腳架時，轉動旋鈕外殼，使支腳上升或下降來達到對中目的。

本發明的優點是結構設計簡單，操作方便，在遇到復雜地形時，也可以高效完成對中整平工作，節省了工作時間，提高了工作效率。

附圖說明

下面結合附圖和實施例對本發明進一步說明。

圖1是本發明外部結構示意圖。

圖2是本發明微調支腳內部結構剖面示意圖。

圖中1防摩擦橡皮墊、2支腳下體、4支腳上體、5支架、6經緯儀安裝平臺、31螺釘、32螺母、33橡皮圈、34旋鈕外殼。

具體實施方式

如圖所示實施例中，一種光學經緯儀微調腳架，包括經緯儀安裝平臺（6），支架（5），微調支腳，防摩擦橡皮墊（1）。經緯儀安裝平臺（6）下面安裝三個支架（5），每個支架（5）底端安裝微調支腳，在微調支腳中，支腳下體（2）底端安裝防摩擦橡皮墊（1），支腳下體（2）上端固定一個螺釘（31），螺釘（31）上套有螺母（32），螺母（32）外側套有橡皮圈（33），橡皮圈外側套有旋鈕外殼（34），螺釘（31）穿過支腳上體（4）底部的通孔，橡皮圈（33）與支腳上體（4）底部摩擦接觸。

所述的旋鈕外殼（34）包裹在支腳上體（4）和支腳下體（2）外面。

所述的螺釘（31）的螺紋間距為1mm。

測量時，將光學經緯儀安置好之后，在對中過程中，需要微調腳架時，轉動旋鈕外殼（34），使支腳上升或下降來達到對中目的。