[發(fā)明專利]檢測方法及檢測裝置

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201410049504.2
• 申請日: 2014-02-12
• 公開（公告）號: CN104122073A
• 公開（公告）日: 2014-10-29
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 劉全豐;黃振勛;黃霈霖;李錫麟;蔡振法;張永昇
• 申請（專利權(quán)）人: 元太科技工業(yè)股份有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02;G02F1/13
• 代理公司: 北京中原華和知識產(chǎn)權(quán)代理有限責任公司 11019
• 代理人: 壽寧;張華輝

1.一種檢測方法，其特征在于包括：

提供像素陣列基板，該像素陣列基板包括多個像素單元；

提供光電檢測元件；

令該光電檢測元件與該像素陣列基板接觸；

輸入多個電氣信號至該像素陣列基板的上述像素單元與該光電檢測元件；以及

根據(jù)該光電檢測元件的光學特性，判斷該像素陣列基板的上述像素單元是否正常。

2.如權(quán)利要求1所述的檢測方法，其特征在于其中每一該像素單元包括至少一主動元件以及與該至少一主動元件電性連接的像素電極，而今該光電檢測元件與該像素陣列基板接觸的步驟包括：

將該光電檢測元件置于該像素陣列基板上，以使該光電檢測元件與上述像素單元的上述像素電極接觸。

3.如權(quán)利要求1所述的檢測方法，其特征在于其中該光電檢測元件包括基底以及位于該基底上的顯示介質(zhì)層，而令該光電檢測元件與該像素陣列基板接觸的步驟為：

將該光電檢測元件置于該像素陣列基板上，以使該光電檢測元件的該顯示介質(zhì)層與該像素陣列基板接觸。

4.如權(quán)利要求1所述的檢測方法，其特征在于其中該光電檢測元件包括基底、位于該基底上的異方向性導(dǎo)電膜以及位于該異方向性導(dǎo)電膜與該基底之間的顯示介質(zhì)層，而令該光電檢測元件與該像素陣列基板接觸的步驟為：

將該光電檢測元件置于該像素陣列基板上，以使該光電檢測元件的該異方向性導(dǎo)電膜與該像素陣列基板接觸。

5.如權(quán)利要求1所述的檢測方法，其特征在于在令該光電檢測元件與該像素陣列基板接觸之后，更包括：

施加壓力于固定該像素陣列基板以及該光電檢測元件。

6.如權(quán)利要求1所述的檢測方法，其特征在于其中該光電檢測元件包括基底以及位于該基底上的顯示介質(zhì)層，而該顯示介質(zhì)層包括電子墨水層或有機發(fā)光二極管層。

7.如權(quán)利要求1所述的檢測方法，其特征在于其中該光電檢測元件包括基底、配置于該基底上的顯示介質(zhì)層以及配置于該基底與該顯示介質(zhì)層之間的共用電極層，而輸入上述電氣信號至該像素陣列基板的上述像素單元與該光電檢測元件的步驟為：

輸入上述電氣信號至該像素陣列基板的上述像素單元以及該光電檢測元件的該共用電極層。

8.如權(quán)利要求7所述的檢測方法，其特征在于其中該像素陣列基板更包括共用電極端，而輸入上述電氣信號至該像素陣列基板的上述像素單元與該光電檢測元件的步驟為：

輸入上述電氣信號至該像素陣列基板的上述像素單元以及該共用電極端，其中上述電氣信號之一通過該共用電極端而傳遞至該光電檢測元件的該共用電極層。

9.如權(quán)利要求1所述的檢測方法，其特征在于其中該光電檢測元件劃分為多個檢測區(qū)塊，該像素陣列基板劃分為分別包括上述像素單元的多個待測區(qū)塊，令該光電檢測元件與該像素陣列基板接觸的步驟為令該光電檢測元件的上述檢測區(qū)塊分別與該像素陣列基板的上述待測區(qū)域接觸，而根據(jù)該光電檢測元件的光學特性判斷該像素陣列基板的上述像素單元是否正常的步驟為：

比較上述電氣信號輸入至該像素陣列基板的上述像素單元與該光電檢測元件時該光電檢測元件的上述檢測區(qū)塊的光學特性與上述檢測區(qū)塊的預(yù)期光學特性之間的差異，若該光電檢測元件的上述檢測區(qū)塊之一的光學特性與上述檢測區(qū)塊的該一的預(yù)期光學特性不同，則判斷與上述檢測區(qū)塊的該一接觸的該待測區(qū)塊的該像素單元異常。

10.一種檢測裝置，用于檢測包括多個像素單元的像素陣列基板，其特征在于該檢測裝置包括：

光電檢測元件，用于與該像素陣列基板接觸；

信號源，用于輸出多個電氣信號至該像素陣列基板的上述像素單元與該光電檢測元件；以及

分析單元，用于根據(jù)該光電檢測元件的光學特性，判斷該像素陣列基板的上述像素單元是否正常。

11.如權(quán)利要求10所述的檢測裝置，其特征在于更包括：

光偵測器，用于偵測該光電檢測元件的光學特性，而該光偵測器所偵測到的該光電檢測元件的光學特性傳送至該分析單元。

12.如權(quán)利要求10所述的檢測裝置，其特征在于，用于檢測包括上述像素單元的該像素陣列基板，而每一該像素單元包括至少一主動元件以及與該至少一主動元件電性連接的像素電極，其中該光電檢測元件用于與上述像素單元的上述像素電極接觸。