[發明專利]一種用于探索高效率光陰極材料的光發射陰極測試系統

無效

• 申請號: 201410048153.3
• 申請日: 2014-02-12
• 公開（公告）號: CN103852479A
• 公開（公告）日: 2014-06-11
• 發明（設計）人: 曹高龍;馬超;田煥芳;張明;孫帥帥;李建奇
• 申請（專利權）人: 中國科學院物理研究所
• 主分類號: G01N23/22
• 分類號: G01N23/22
• 代理公司: 北京和信華成知識產權代理事務所(普通合伙) 11390
• 代理人: 王藝

1.一種用于探索高效率光陰極材料的光發射陰極測試系統，其特征在于，包括光發射電子槍、電子加速裝置、高真空腔體、探測器、激光器和真空設備；所述光發射電子槍包含光發射陰極，用于被所述激光器產生的激光輻射后，所述光發射陰級被激發出光電子；所述電子加速裝置用于對所述光電子進行加速；所述光發射電子槍和電子加速裝置置于所述高真空腔體內；所述真空設備用于使所述高真空腔體保持高真空度；所述探測器用于接收并分析發射出的光電子的亮度、單色性、相干性等特性。

2.如權利要求1所述的一種用于探索高效率光陰極材料的光發射陰極測試系統，其特征在于：所述光發射電子槍具有陰極加熱功能，輸入電壓0-12V，輸入電流0-3A，燈絲溫度的典型調節范圍可從300K-3000K，能夠模擬時間分辨電子顯微鏡的真實工作狀態。

3.如權利要求2所述的一種用于探索高效率光陰極材料的光發射陰極測試系統，其特征在于：所述光發射電子槍能夠適用于不同電鏡廠商生產的不同類型的燈絲座，同時自制光發射陰極也可以方便的安裝在燈絲座上。

4.如權利要求3所述的一種用于探索高效率光陰極材料的光發射陰極測試系統，其特征在于：所述探測器為法拉第筒、能量分析器、熒光CCD等。

5.如權利要求4所述的一種用于探索高效率光陰極材料的光發射陰極測試系統，其特征在于：所述激光的入射方式為從正面激光窗口入射或者從側面激光窗口入射。

6.如權利要求5所述的一種用于探索高效率光陰極材料的光發射陰極測試系統，其特征在于：所述激光器波長和功率可調。

7.如權利要求6所述的一種用于探索高效率光陰極材料的光發射陰極測試系統，其特征在于：所述電子加速裝置為高壓加速管。

8.如權利要求7所述的一種用于探索高效率光陰極材料的光發射陰極測試系統，其特征在于：所述高壓加速管由所述光發射陰極和陽極板組成，連接有直流高壓源。

9.如權利要求8所述的一種用于探索高效率光陰極材料的光發射陰極測試系統，其特征在于：所述光發射陰極為圓錐形，所述陽極板為球面，所述圓錐的尖端位于所述球面的球心。