[發(fā)明專利]半導(dǎo)體器件的形成方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410045284.6 | 申請日: | 2014-01-30 |
| 公開(公告)號: | CN104821281A | 公開(公告)日: | 2015-08-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 施林波;陳福成 | 申請(專利權(quán))人: | 中芯國際集成電路制造(上海)有限公司;中芯國際集成電路制造(北京)有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/60 | 分類號: | H01L21/60 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227 | 代理人: | 駱蘇華 |
| 地址: | 201203 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體器件 形成 方法 | ||
1.一種半導(dǎo)體器件的形成方法,其特征在于:包括:
提供半導(dǎo)體襯底;
在所述半導(dǎo)體襯底中形成凹槽;
在所述凹槽中填充金屬材料層;
采用車刀切割去除部分所述金屬材料層,使得所述凹槽內(nèi)的剩余金屬材料層表面與所述半導(dǎo)體襯底表面齊平;
使兩塊所述半導(dǎo)體襯底鍵合連接,鍵合時(shí)將兩塊所述半導(dǎo)體襯底相對堆疊且兩塊半導(dǎo)體襯底內(nèi)的金屬材料層表面相互貼合。
2.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體器件的形成方法,其特征在于,所述鍵合連接的工藝參數(shù)包括:溫度為150~250℃,壓強(qiáng)為3~7MPa,持續(xù)時(shí)間為20~60min。
3.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體器件的形成方法,其特征在于,所述車刀切割的工藝參數(shù)包括:控制刀具的主軸轉(zhuǎn)速為1000~3500rpm,進(jìn)刀量為10~30m/min,背刀量為0.5~3μm。
4.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體器件的形成方法,其特征在于,所述車刀切割采用的刀具的材料為金剛石。
5.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體器件的形成方法,其特征在于,所述車刀切割采用的刀具為圓形,且直徑為2~5mm。
6.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體器件的形成方法,其特征在于,在所述鍵合工藝后,還包括:進(jìn)行退火工藝。
7.如權(quán)利要求6所述的半導(dǎo)體器件的形成方法,其特征在于,所述退火工藝的溫度大于鍵合工藝的溫度。
8.如權(quán)利要求7所述的半導(dǎo)體器件的形成方法,其特征在于,所述退火工藝的溫度小于或等于300℃,退火時(shí)間為40~80min。
9.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體器件的形成方法,其特征在于,在所述車刀切割后,還包括:清洗所述金屬材料層。
10.如權(quán)利要求9所述的半導(dǎo)體器件的形成方法,其特征在于,清洗所述金屬材料層的清洗液包括檸檬酸溶液。
11.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體器件的形成方法,其特征在于,所述金屬材料層為銅層,在所述凹槽中填充金屬材料層的步驟包括:
在所述凹槽底部以及側(cè)壁形成銅籽晶層;
采用電鍍工藝在所述凹槽內(nèi)填充滿銅。
12.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體器件的形成方法,其特征在于,采用車刀切割去除部分所述金屬材料層的步驟包括:使車刀切割后金屬材料層表面的粗糙度Ra≤0.02μm。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





