[發明專利]一種基于冷原子物質波的縱向關聯成像方法

有效

• 申請號: 201410043417.6
• 申請日: 2014-01-25
• 公開（公告）號: CN103760560B
• 公開（公告）日: 2017-03-29
• 發明（設計）人: 陳君
• 申請（專利權）人: 中國計量學院
• 主分類號: G01S13/89
• 分類號: G01S13/89
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種基于冷原子物質波的縱向關聯成像方法，其特征在于，包括如下步驟：

(1)產生冷原子物質波；

(2)將所述冷原子物質波通過物質波分束器產生信號物質波和參考物質波；

(3)將所述參考物質波進行縱向多點測量；

(4)將所述信號物質波投射到探測空間中的縱向勢場；

(5)將所述縱向勢場作用后的信號物質波進行桶測量并與所述參考物質波的多點測量結果進行關聯，獲得所述縱向勢場的分布圖像。

2.根據權利要求1所述的一種基于冷原子物質波的縱向關聯成像方法，其特征在于，所述冷原子物質波是采用激光冷卻方法制備的低溫冷原子團，其傳播方向為縱向，且與重力加速度方向重合。

3.根據權利要求1所述的一種基于冷原子物質波的縱向關聯成像方法，其特征在于，所述物質波分束器是由與原子能級共振的拉曼激光脈沖形成。

4.根據權利要求1所述的一種基于冷原子物質波的縱向關聯成像方法，其特征在于，所述縱向多點測量具體為：將傳播方向垂直于縱向的共振激光照射所述參考物質波，經物質波吸收后，透射激光被CCD面探測器接收，CCD面探測器獲得的激光光強分布信息即是參考物質波縱向密度分布信息。

5.根據權利要求1所述的一種基于冷原子物質波的縱向關聯成像方法，其特征在于，對所述物體進行關聯測量時，如所述冷原子物質波源的縱向關聯函數為，則投射物體后的信號物質波和參考物質波的關聯數據，

其中n₁（z₁)是CCD面探測器獲得的參考物質波的原子密度，n₂(z₂)是桶探測器獲得的信號物質波的原子密度，t₂是物質波從分束器傳輸到桶探測器的時間，m(z)為待測縱向勢場的分布函數，M是原子質量，是普朗克常量，Г(z₁，z₂)是所述物質波的一階關聯函數

Γ(z1,z2)=∫∫Γ0(z1′,z2′)K1*(z1′,z1)K2(z2′,z2)dz1′dz2′=D0∫exp[-2z1′2T2]K1*(z1′,z1)K2(z1′,z2)dz1′,]]>

其中K₁是物質波從所述分束器傳輸到所述面探測器的傳播函數，K₁(z₁^′，z₁)=1，K₂是物質波從所述分束器傳輸到所述桶探測器的傳播函數

其中g是重力加速度。