[發明專利]質譜儀及其離子化裝置

在審

• 申請號: 201410042449.4
• 申請日: 2014-01-28
• 公開（公告）號: CN104810234A
• 公開（公告）日: 2015-07-29
• 發明（設計）人: 田禾;孫金龍;張小華;張華;劉曉超
• 申請（專利權）人: 北京普析通用儀器有限責任公司
• 主分類號: H01J49/10
• 分類號: H01J49/10;H01J49/26
• 代理公司: 隆天知識產權代理有限公司 72003
• 代理人: 李昕巍;趙根喜

1.一種離子化裝置，用于離子化樣品分子，其特征在于，所述離子化裝置包括：

原子化器(1)，接收所述樣品分子并使其原子化；及

微波等離子體發射器(2)，用于射出微波等離子體，并通過所述微波等離子體使原子化的樣品分子離子化。

2.根據權利要求1所述的離子化裝置，其特征在于，所述原子化器(1)為火焰原子化器(3)，所述火焰原子化器(3)通過燃燒氣體的燃燒產生扁平狀的火焰區域(31)并使所述樣品分子原子化。

3.根據權利要求2所述的離子化裝置，其特征在于，所述微波等離子體的射出方向垂直于所述火焰區域(31)的平面。

4.根據權利要求2所述的離子化裝置，其特征在于，所述燃燒氣體為空氣-乙炔混合氣體。

5.根據權利要求1所述的離子化裝置，其特征在于，所述原子化器(1)為石墨爐原子化器(4)，包括爐體(40)、設于所述爐體(40)內部可穿過光線的石墨管、設于所述爐體(40)上端的進樣窗(41)及開設于所述爐體(40)兩側端部的開孔(42)，所述樣品分子通過進樣窗(41)進入石墨管，所述石墨管高溫原子化所述樣品分子，所述微波等離子體穿過所述開孔(42)射入所述石墨管以離子化所述樣品分子。

6.根據權利要求5所述的離子化裝置，其特征在于，所述微波等離子體的射出方向垂直于所述石墨管中的光線射入方向。

7.根據權利要求1所述的質譜儀，其特征在于，所述微波等離子體發射器(2)發出的微波等離子體為氬等離子體。

8.一種質譜儀，包括樣品源(5)、離子化裝置、質量分析器(6)及檢測器(7)，其特征在于，所述離子化裝置為權利要求1～8中任意一項所述的離子化裝置，所述樣品源(5)放出樣品分子，所述離子化裝置對所述樣品分子原子化和離子化，離子化的樣品離子進入所述質量分析器(6)按質荷比分開后進入所述檢測器(7)。